O‘ZBEKISTON MILLIY STANDARTI

OLOVBARDOSHLAR. RENTGENFLUORESSENT USULI BILAN KIMYOVIY TAHLIL

Rasmiy nashr

O‘zbekiston standartlar instituti

Toshkent

So‘z boshi

1. STQ 21 “Qurilish va uy-joy kommunal xoʻjaligi” Standartlashtirish boʻyicha texnik qoʻmitasi tomonidan “O‘zmetkombinat” AJ hamkorligida ISHLAB CHIQILDI.

2. Oʻzbekiston standartlar instituti tomonidan __________yil _______dagi ____-sonli buyrugʻi bilan TASDIQLANDI.

3. Ushbu standart ГОСТ Р 55410-2013 asosida ishlab chiqilgan.

4. ГОСТ Р 55410-2013 o'rniga joriy etilgan.

Ushbu milliy standart va unga bo‘lgan o‘zgartishlarni O‘zbekiston hududida amalga kiritish haqidagi axborot Standartlashtirish bo‘yicha milliy organning rasmiy veb-saytlari va standartlarning yillik axborot ko‘rsatkichlarida chop etiladi.

Ushbu standartni Oʻzbekiston hududida rasmiy chop etish mutlaq huquqi Oʻzbekiston standartlar institutiga tegishli

                                                                                                                                                      II

Mundarija

                  III

Kirish

Ushbu milliy standartda qo‘llash doirasi kengaytirilgan: standart eritilgan quyma disklardan foydalangan, shuningdek, presslangan namunalarning milliy iqtisodiyoti ehtiyojlarini hisobga olgan holda rentgen-fluoressent usuli bilan olovbardoshlarning kimyoviy tahliliga amal qiladi;

Ushbu milliy standartning xalqaro standartga nisbatan modifikatsiyasi quyidagilardan iborat:

• qo‘llash doirasi kengayishi munosabati bilan standartning nomi aniqlandi: “eritilgan quyma disklardan foydalangan holda” so‘zlari chiqarib tashlandi;

• 2-bo‘lim “Normativ hujjatlarga havolalar” milliy standartlar bilan to‘ldirilgan;

• 4-bo‘limda “Usulning mohiyati” va butun matn bo‘ylab, D va E ilovalaridan tashqari, “seriyalangan etalon meteriallar (SeRMs)” va “standart namunalar (CRMs)” atamalari mos ravishda “standart namunalar to‘plamlari” va “sertifikatlangan standart namunalar” bilan almashtirildi;

• xalqaro standartining 15-bo‘limi “Sinovlar to‘g‘risidagi hisobot” “O‘lchovlarni bajarish va natijalar sifatini nazorat qilish” bo‘limi bilan almashtirildi va 16-bo‘limga o‘tkazildi;

• qo‘shimcha ravishda 17-bo‘lim “Xavfsizlik talablari” kiritildi;

• qo‘shimcha DA “Atamalar, ta’riflar va ishoralar”, DB “Presslangan namunalarni rentgen-fluoressent tahlilini tayyorlash va o‘tkazish” ilovalari kiritildi.

  IV

O‘ZBEKISTON MILLIY STANDARTI

Olovbardoshlar. Rentgenfluoressent usuli bilan kimyoviy tahlil

Огнеупоры. Химический анализ рентгенофлуоресцентным методом

Chemical analysis of refractory products by X-ray fluorescence (XRF) - Fused cast bead method 

__________________________________________________________________________________

Amalga kiritish sanasi _____2025 y.

1 Qo‘llanish doirasi

Ushbu milliy standart eritilgan quyma yoki presslangan disklar ko‘rinishidagi namunalar yordamida olovbardoshlar va olovbardosh xom ashyoni rentgen-fluoressent tahlili usuli (XRF) bilan kimyoviy tahlil qilish usulini belgilaydi.

Ushbu usul bilan tahlil qilinishi mumkin bo‘lgan olovbardoshlar va olovbardosh xom ashyosi 3-bo‘limda keltirilgan. Mazkur milliy standart kislorodsiz olovbardoshlarga, masalan, kremniy karbidi yoki nitritlarga qo‘llanilmaydi.

1.  Standartga havolalar

Quyida keltirilgan havola hujjatlari ushbu milliy standart uchun majburiydir. Sanasi qat’iy belgilangan hujjatlar uchun faqat eslatib o‘tilgan nashrdan foydalanish kerak. “Suzuvchi” havolalar uchun havola hujjatining so‘nggi nashri (shu jumladan barcha o‘zgartirishlar va/yoki tuzatishlar) qo‘llaniladi.

ГОСТ 8.315-2019 Государственная система обеспечения единства измерений. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов. Основные положения

ГОСТ 12.0.004-2015 Система стандартов безопасности труда. Организация обучения безопасности труда. Общие положения

ГОСТ Р 12.3.047 Система стандартов безопасности труда. Пожарная безопасность технологичсеких процессов. Общие требования. Методы контроля

ГОСТ 12.1.019-2017 Система стандартов безопасности труда. Электробезопасность. Общие требования и номенклатура видов защиты

ГОСТ 12.4.009-83 Система стандартов безопасности труда. Пожарная техника для защиты объектов. Основные виды. Размещение и обслуживание

ГОСТ 450-77 Кальций хлористый технический. Технические условия

         ГОСТ 2642.0-2014 Материалы и изделия огнеупорные. Общие требования к методам анализа

ГОСТ 2642.2-2014 Огнеупоры и огнеупорное сырье. Методы определения изменения массы при прокаливании

ГОСТ 3956-76 Силикагель технический. Технические условия

ГОСТ 6613-86 Сетки проволочные тканые с квадратными ячейками

ГОСТ 9656-75 Реактивы. Кислота борная. Технические условия

ГОСТ 10779-97 Polivinil spirti. Texnik shartlar

ГОСТ OIML R 76-1-2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Весы неавтоматического действия. Часть 1. Метрологические и технические требования. Испытания

ГОСТ Р 56211-2014 Смолы эпоксидно-диановые неотверждённые. Техничсекие условия.

ГОСТ ИСО 3310-1-2002 Сита контрольные. Часть 1. Сита контрольные из металличсекой проволочной ткани. Технические требования и испытания.

__________________________________________________________________________________

Rasmiy nashr                                                                                                                                             

ГОСТ Р ИСО 5725-1-2003 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть I. Основные положения и определения

ГОСТ Р ИСО 5725-6-2003 Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 6. Использование значений точности на практике

O‘zDSt ISO 3310-2:2019 Sinov elaklari – texnik talablar va sinov 2-qism. Teshilgan metal plastinkadan tayyorlangan sinov elaklari

O‘zDSt ISO 3490:2020 Rektifikatsiyalangan texnik etil spirti. Texnik shartlar.

Izoh - Ushbu milliy standartdan foydalanishda Standartlashtirish boʻyicha milliy organning rasmiy veb-saytlari va standartlarning yillik axborot koʻrsatkichlariga muvofiq standartlarni Oʻzbekiston Respublikasi hududida amal qilinishi tekshirilishi kerak. Agar havola qilingan standart almashtirilgan (oʻzgartirilgan) boʻlsa, unda ushbu standartdan foydalanishda almashtirilgan (oʻzgartirilgan) standartga amal qilish kerak. Agarda havola qilinayotgan standart almashtirilmasdan bekor qilingan boʻlsa, unga havola qilingan qoida ushbu havolaga taalluqli boʻlmagan qismida qoʻllaniladi.

3 Materiallar turlari

Bo‘limda ushbu usul bilan muvaffaqiyatli o‘rganilgan turli xildagi olovbardoshlar va olovbardosh xom ashyolar ro‘yxati keltirilgan. Olingan statistika ma’lumotlari I-ilovasida keltirilgan. Ro‘yxat boshqa turdagi olovbardoshlar bilan to‘ldirilishi mumkin.

a) AI2O3 ning massa ulushi 45% va undan yuqori bo‘lgan tarkibida alyuminiy oksidi ko‘p bo‘lgan materiallar

b) Alyumosilikatli, Al2O3 massa ulushi 7% dan 45% gacha

c) SiO2 ning massa ulushi 93% va undan yuqori bo‘lgan kremniy oksidli materiallar

d) Sirkon

e) Sirkoniy dioksidi va sirkonatla

f) Magniy oksidi

g) Massa nisbati (~70/30) bo‘lgan magniy oksidi/alyuminiy oksidli shpinel

h) Dolomit

i) Ohaktosh

j) Magniy oksidi/xrom oksidi

k) Xrom rudasi

l) Xromoksid-alyuminiy oksidli

m) Massa nisbati (~ 70/30) bo‘lgan alyuminiy oksidi/magneziyli shpinel

n) Alyuminiy oksidi sirkoniy silikat quyma materiallari (AZS)

o) Kalsiy silikatlari

p) Kalsiy alyuminatlari

q) Magniy silikatlari

Oksidlarning massa ulushini o‘lchash diapazoni va kerakli aniqlash chegaralari A ilovasida keltirilgan.

Izohlar:

1 Yuqorida sanab o‘tilgan ba’zi materiallar uchun 10.3.4 bo‘yicha standart (namunali) kalibrlashlardan foydalanish mumkin.

2 Ushbu standart kislorodsiz moddalarga, masalan, kremniy karbidiga qo‘llanilmaydi. Bunday materiallarga rentgen-fluoressent tahlilidan oldin namunalarni qizdirish va eritishda yo‘qotishlarni aniqlash bo‘yicha maxsus metodikalar talab qilinadi. Tegishli usullar [2-4] da tasvirlangan. Agar eritilgan diskni qizdirish va keyingi tayyorlash jarayoni yuqorida aytib o‘tilgan materiallarning xususiyatlarini hisobga olgan holda amalga oshirilsa, u holda tahlil ushbu standartga muvofiq amalga oshirilishi mumkin.

3 Kremniy karbidi turidagi materiallarni yetarlicha ehtiyotkorlik bilan oldindan tayyorlamaslik nafaqat natijalardagi xatoga, balki qimmat platina tigellari va chashalarning buzilishiga olib kelishi mumkin.

1. Usulning mohiyati

Maydalangan namuna mineralogik va dispersion tuzilishini buzish uchun mos eritgich yordamida eritiladi. Olingan eritma shishasimon disk shaklida namuna olish uchun qolipga quyiladi, so‘ngra rentgen-fluoressent spektrometrga joylashtiriladi. Tahlil qilinayotgan elementning rentgen nurlanishining intensivligi o‘lchanadi. Namuna tarkibi oldindan qurilgan kalibrlash egri chiziqlari yordamida yoki oldindan hisoblangan tenglamalar yordamida aniqlanadi (elementlararo o‘zaro ta’sirni hisobga oladigan tuzatishlardan foydalanishga ruxsat beriladi). Elementlararo o‘zaro ta’sirga kalibrlash tenglamalar va tuzatishlar.  O‘lchov tenglamalari va hujayralararo o‘zaro ta’sirga tuzatishlar sof reagentlardan va/yoki tahlil qilingan namunalarga o‘xshash tarzda tayyorlangan standart namunalar (SeRM-matnda batafsil) to‘plamlaridan tayyorlangan disklar yordamida o‘rnatiladi. Sertifikatlangan standart (CRM - matnda batafsil) namunalar 10.2.2 va 10.4.1 bo‘limlarda ko‘rsatilgan barcha talablarga javob berishi sharti bilan ishlatilishi mumkin. 

Eritilgan quyma disklarni ishlab chiqarish usuli universal bo‘lganligi sababli, takrorlanuvchanlik, sezgirlik va aniqlik mezonlariga javob beradigan har xil turdagi eritgichlar va kalibrlash usullaridan foydalanishga ruxsat beriladi. Agar laboratoriyaning shaxsiy usullari quyida keltirilgan mezonlarga javob bersa, ularni ushbu standartga muvofiq deb hisoblash mumkin.

Presslangan namunalarning rentgen-fluoressent tahlilini o‘tkazishga tayyorgarlik DB-ilovasiga muvofiq amalga oshiriladi.

Izoh — kalibrlashda standartlashtirilgan yoki attestatsiyadan o‘tkazilgan kimyoviy tahlil usullari bilan tahlil qilingan bir xil namunalardan foydalanishga ruxsat beriladi.

2.  Uskunalar

3. Namlanmaydigan platina qotishmasidan yasalgan eritish idishi (mos qotishma Pt/Au hisoblanadi - 95% / 5% massa nisbati bilan). Qopqoqlar (agar qo‘llanilsa) ham platina qotishmasidan yasalgan bo‘lishi kerak (biroq ular namlanishi mumkin).

Izoh — platina idishlarini parvarish qilish bo‘yicha qo‘llanma [5] da keltirilgan.

4. Namlanmaydigan platina qotishmasidan yasalgan qolip (mos qotishma Pt/Au hisoblanadi - 95% / 5% massa nisbati bilan).

Izoh — bir vaqtning o‘zida eritish idishi va qolip sifatida xizmat qiladigan idishlardan foydalanishga ruxsat beriladi.

5. Quyma quyiladigan qolip uchun isitish idishi (qo‘shimcha uskuna). Faqat maxsus holatlarda, pechdan chiqarilgandan keyin qolip juda tez sovib ketmasligi uchun kichik o‘lchamdagi qoliplardan foydalanganda talab qilinadi. Bu maqsadda olovbardoshning kichik tekis bo‘lakdan foydalaniladi, masalan, o‘lchamlari (10x50x50) mm bo‘lgan sillimanit gilamcha.

6. Qolipni tez sovutish uchun havo oqimini yaratish moslamasi (qo‘shimcha uskuna). Bu tor havo oqimi quyma idishning tagining markaziga yo‘naltirilgan har qanday moslama bo‘lishi mumkin. Sovutishning eng qulay usuli — bu havo oqimini hosil qilish funksiyasini bajaradigan silindrsimon qismsiz Bunzen gorelkasining (gaz gorelkasi) tagidan foydalanish.

Suv bilan sovutiladigan metall plastinkadan foydalanishga ruxsat beriladi.

Izoh — ko‘p hollarda eritma juda tez sovutilishi kerak. Bu gomogen namunalarni olish va eritmani qolipdan osonroq chiqarib olish uchun kerak.

7. Eritish uskunasi — 1050 - 1250 0C harorat oralig‘ida isitishni ta’minlaydigan elektr qarshilik pechi yoki yuqori chastotali induksion pechi.

8. Avtomatik moslama yordamida disklarni olishda ishlatiladigan avtomatik eritish uskunasi (9.2).

9. Maksimal ruxsat etilgan tortish xatosi (± 0,0001) g gacha bo‘lgan tarozilar.

10. Chiziqli yoki aylanma tarzda harakat qiluvchi mexanik aralashtirgich.

Izoh — materialning qatlamlari ajralishini keltirib chiqaradigan tebranuvchan aralashtirgichlaridan foydalanishga yo‘l qo‘yilmaydi.

11. Namunalarni presslash uchun ishlatiladigan moslamalar DB-ilovasida keltirilgan.

12. Namunani maydalash

Namunalarni ГОСТ 2642.0 bo‘yicha tayyorlash.

Izoh — To‘pdan vakillik namunasini tanlash mahsulotlar uchun me’yoriy hujjatga muvofiq amalga oshiriladi.

Namuna volfram karbididan yasalgan moslamalar yordamida maydalanadi. Bunda qizdirishda massaning o‘zgarishini hisoblashda va tahlil natijalarini olishda volfram karbidining (va agar kerak bo‘lsa, uni bog‘laydigan moddaning) ta’sirini hisobga olish uchun B-ilovasiga muvofiq tegishli tuzatishlarni kiritish kerak.

Izoh — belgilangan sinf materiallari uchun an’anaviy kimyoviy tahlil usullarida ko‘rsatilgan namunalarni maydalash usullaridan foydalanishga ruxsat beriladi. Har qanday holda, volfram karbidli moslamalaridan foydalanadigan maydalash usuliga ustunlik beriladi.

Zarrachalarning maksimal hajmi 100 mkm dan oshmasligi kerak.

Izoh — Maydalash eritishni osonlashtirish uchun yetarli bo‘lgan, biroq qo‘llaniladigan ifloslanish chegaralaridan past bo‘lgan materialning ajralish darajasini olish uchun amalga oshiriladi. Eritish qiyin bo‘lgan ba’zi namunalar (masalan, xrom rudalari) uchun nozikroq maydalashni talab qilishi mumkin — 60 mkm dan kam bo‘lgan zarrachalarning hajmigacha.

Kerakli o‘lchamdagi zarrachalarni olish uchun ikkita usuldan birini qo‘llanishi mumkin:

а) Har bir namuna turi uchun mexanik maydalash moslamalaridan foydalanganda, ularni kerakli darajada maydalash uchun minimal vaqtni belgilash kerak. Maydalash vaqtini belgilash uchun odatdagi materiallarning namunalarini tayyorlash uchun vaqtni asta-sekin taxminan 2 daqiqaga ko‘paytirgan holda mexanik maydalash moslamasi ishlatiladi.

Har safar maydalangan namuna 100 mkm hujayra o‘lchamiga ega bo‘lgan elakdan o‘tkaziladi, butun namuna shu elakdan o‘tadigan vaqt aniqlanmaguncha. Kelajakda maydalash uchun eng qiyin material uchun belgilangan vaqtdan yoki undan ko‘proq vaqtdan foydalanish kerak.

Xromit (xrom rudasi) kabi qattiq materiallarni maydalashda elaklardan foydalanish mumkin, ammo bu qatlamlar ajralishiga olib kelishi mumkin. Shuning uchun, namuna elakdan o‘tkazilgandan so‘ng, uni saralash trubkasiga joylashtirishdan oldin aralashtirish yoki silkitish orqali o‘rtacha hisobini chiqarish kerak. Og‘irroq minerallarning vertikal ravishda qatlamlari ajralishi mumkinligi sababli, tortishdan oldin namunani yana aralashtirish tavsiya etiladi.

b) Namunani qo‘lda maydalashda u 20 soniya davomida maydalanadi va hosil bo‘lgan kukun ГОСТ ИСО 3310-1 va OʻzDSt ISO 3310-2 ga muvofiq 100 mkm o‘lchamdagi elakdan o‘tkaziladi. Elakda qolgan material 20 soniya davomida qayta maydalanadi, so‘ngra xuddi o‘sha elakdan o‘tkaziladi. Amaliyot butun namuna elakdan o‘tguncha takrorlanadi. So‘ngra, maydalangan namuna mexanik aralashtirgich yordamida, masalan, vertikal chiziqli aralashtirgich yordamida bir daqiqa davomida aralashtiriladi.

Izoh — Ushbu protseduraning maqsadi kattalikni tekshirish emas, balki eritish uchun mos namunani olish bo‘lganligi sababli, afzallik a) usuliga beriladi.

13. Qizdirish (va/yoki quritish) paytida massaning o‘zgarishi

Qizdirishda massaning o‘zgarishi ГОСТ 2642.2 ga muvofiq aniqlanadi

14. Eritgich (plaven)

15. Eritgichni tanlash hamda eritgich va namuna o‘rtasidagi nisbat

16. Eritilgan quyma disklarning rentgen-fluoressent tahlili (XRF) usulining afzalliklaridan biri bu turli xil eritgichlardan foydalanish qobiliyatidir. Ushbu kalibrlash uchun butun tahlil jarayonida bir xil eritgichdan foydalanish kerak. 8.1.2—8.1.9-bo‘limida belgilangan shartlar har qanday eritgich hamda eritgich va namuna o‘rtasidagi nisbat uchun bajarilishi kerak.

Izoh — olovbardoshlarlarni tahlil qilishda ishlatiladigan eritgichlarning ro‘yxati C-ilovasida keltirilgan. Namlikning kamroq massa ulushiga ega bo‘lgan oldindan qizdirilgan eritgichlarga ustunlik beriladi.

17. Namunani tayyorlash shartlari uning eritgichda to‘liq eritilishini ta’minlashi va quyish jarayonida eritmadan ajralishiga yo‘l qo‘ymasligi kerak.

18. Olingan disk shisha kristallanish belgilarisiz shaffof bo‘lishi kerak.

19. Hisoblash vaqti (impulslar) (≤200 soniya) belgilangan aniqlash chegaralariga erishish uchun yetarli bo‘lishi kerak. Aniqlash chegaralari 14-bo‘limga muvofiq belgilanadi; ularning qiymatlari A-ilovasida keltirilgan.

20. Hisoblashning maqbul vaqti (≤200 soniya) tanlanganda har bir aniqlanadigan element uchun takrorlanuvchanlik me’yorlari uchun standart talablariga javob beradigan natijalar olinadi (12.2 ga muvofiq va G 1 da berilgan o‘lchovlar bilan).

21. Eritgichga og‘ir elementlarni yutgichni kiritishga ruxsat beriladi, agar:

22. bu sezgirlikning pasayishiga olib kelmasa va 8.1.4 va 8.1.5 shartlari bajarilsa;

23. og‘ir element spektri har qanday aniqlanadigan elementlarning chiziqlariga chiziqli ustma-ust tushishiga ega bo‘lmasa.

24. Yengil uchuvchan moddalarni aniqlashda erish harorati juda past bo‘lgan eritgich ishlatiladi, bu esa eritish paytida kerakli elementni ushlab turishga imkon beradi.

25. Qo‘rg‘oshin, rux, kobalt kabi platina bilan eritiladigan elementlarni aniqlash uchun erish harorati ushbu reaksiya sodir bo‘ladigan 1050 0C haroratdan oshmasligi kerak.

Eritgich aniqlanadigan elementlarga nisbatan toza bo‘lishi kerak. Eritgich va namuna massalari o‘rtasidagi nisbat 1 dan katta bo‘lsa (C-ilovasi), eritgichdagi aralashmalar o‘lchov natijasiga salbiy ta’sir ko‘rsatishi mumkin. Eritgich va namuna o‘rtasidagi nisbat qanchalik katta bo‘lsa, eritgichning ta’siri shunchalik katta bo‘ladi va eritgichdagi tahlil qilinadigan elementlarning ruxsat etilgan aralashmalar darajasi quyidagidan oshmasligi kerak

bunda R — eritgich va namuna massalari o‘rtasidagi nisbat;

D — tahlil qilinayotgan elementning aniqlash chegarasi (chegara sezgirligi).

Taniqli firmalar tomonidan eritgich sifatida ishlab chiqaradigan reagentlarning aksariyati ushbu talabga javob beradi, ammo yetkazib beriladigan eritgichning har bir to‘pini nazorat qilish kerak. Har bir eritgich to‘pi uchun kalibrlashning to‘g‘riligini qayta tekshirish kerak.

24. Eritgichdagi namlik tarkibi uchun tuzatishlar

Eritgichdagi namlikning massa ulushi quyida keltirilgan usullardan biri bilan qoplanishi kerak:

1. tahlildan oldin darhol butun kerakli eritgich (8-10) soat davomida 700 0C haroratda qizdiriladi va saqlash uchun eksikatorga joylashtiriladi;

2. qizdirish paytida massaning ikkita parallel aniqlash bajariladi, bunda ishlatiladigan har bir kilogramm eritgichdan massasi 1 g bo‘lgan yaxshilab aralashtirilgan eritgich namunasi olinadi.

Qaysi vaqt oralig‘idan kattaroq bo‘lishiga qarab, 10 daqiqa davomida yoki odatdagi erish vaqti davomida erish haroratida qizdiriladi [9.1.2.f)]. Agar eritgichlar ishlatilmasa, ular mahkam yopiladigan qopqoqli idishda saqlanadi.

Qizdirish paytida massa o‘zgarishi, foiz sifatida ifodalangan, W L, (1) formula bo‘yicha F omilini hisoblash uchun ishlatiladi, bu esa o‘z navbatida qizdirilgan silliqning kerakli massasini olish uchun zarur bo‘lgan qizdirilmagan eritgich massasini hisoblash uchun ishlatiladi (F qizdirilgan eritgich massasiga ko‘paytiriladi va kerakli qizdirilmagan eritgich massasini oladi).

Qizdirish paytida massa o‘zgarishini aniqlash har hafta yoki ishlatiladigan har bir kilogramm eritgich uchun amalga oshiriladi.

                                         (1)

Izoh — Agar qizdirish paytida massaning nisbiy o‘zgarishi 0,50 % dan oshmasa (oldindan qizdirilgan eritgich) tuzatishlarni kiritmaslikka yo‘l qo‘yiladi.

25. Eritish va quyish protseduralari

26. Namunani eritish va disklarni quyish

27. Protsedurani tanlash

Protsedurani tanlash bo‘yicha ko‘rsatma jarayonning ba’zi bosqichlari uchun berilgan. Protsedura tanlagandan so‘ng, protsedura boshidan oxirigacha amalga oshiriladi, to‘liq qayta kalibrlash bundan mustasno.

28. Talablar

Disklarni ishlab chiqarishda quyidagi talablar bajariladi:

1. juft yoki bittalik disklar quyiladi; ularning miqdori tahlil hisobotida qayd etiladi;

2. muayyan quyma shaklini hisobga olgan holda namuna va eritgichning umumiy massasi tanlanadi va kelajakda bu massa qiymati har doim ishlatiladi;

3. eritgich massasi va namuna massasining R nisbati ishlatiladigan barcha turdagi materiallar uchun bir xil bo‘lishi kerak;

4. ishlab chiqarilgan eritmalar vizual ko‘rinishda bir xil bo‘lishi kerak;

5. eritish paytida namunaning biron bir komponentini yo‘qotilishiga yo‘l qo‘yilmaydi, masalan, qayta tiklanish yoki bug‘lanish paytida;

6. namuna va kalibrlash standartlarini tayyorlashda vaqt va erish haroratini optimallashtirish hisobiga eritgich yo‘qotilishlari kamaytiriladi;

7. namunani tayyorlash jarayonida uning ushbu namunada tahlil qilinadigan har qanday elementlar bilan ifloslanishiga yo‘l qo‘yilmaydi;

8. tahlil qilish uchun tanlangan disk yuzasida nuqsonlarga yo‘l qo‘yilmaydi;

9. tahlil qilish uchun ishlatiladigan diskning yuqori yuzasi qavariq yoki tekis va diametri bo‘yicha nosimmetrik bo‘lishi kerak;

10. ma’lum tarkibga ega standart disklari namunalar bilan bir xil tarzda tayyorlanadi;

11. deformatsiyalangan quyma qoliplar tegishli shaklda presslash orqali qayta tiklanadi. Agar tahlil qilish uchun diskning pastki (tekis) yuzasi ishlatilsa, qolipning yuzasi tekis va nuqsonsiz bo‘lishi kerak;

12. disklarning qalinligi o‘lchanadigan rentgen nurlanish to‘lqinlari uzunliklariga nisbatan cheksiz bo‘lishi kerak. olovbardoshlar tahlilida ishlatiladigan chiziqli parametrlar uchun odatda kerakli qalinlikdagi namunalar olinadi.

Izohlar

1. Juft disklarni tahlil qilish afzaldir. Ammo, agar A-ilovasida keltirilgan barcha oksidlar tegishli material sinfi uchun aniqlansa, olingan umumiy natija nazorat sifatida ishlatilishi mumkin.

2. 1200 0C haroratda eritish ba’zi elementlarning istalmagan bug‘lanishiga olib kelishi mumkin, masalan, oksidlovchi vositadan foydalanganda ham oltingugurt yo‘qolishi mumkin.

29. Diskni quyish uchun namunani tayyorlash

Tahlil qilinadigan namuna quyidagi usullardan biri bilan tayyorlanadi:

a) namuna (1025±25)0C haroratda doimiy massagacha qizdiriladi, eksikatorga joylashtiriladi va xona haroratiga qadar sovutiladi. Namuna eritish idishida tortiladi va m massaning o‘lchash natijasi grammlarda, to‘rtinchi kasrgacha aniqlik bilan qayd etiladi. Eritgich 8.2-bo‘limida tasvirlanganidek tortiladi;

b) R· m· F massali qizdirilmagan eritgich namuna bilan yaxshilab aralashtiriladi, bu yerda F — 8.2b bo‘yicha o‘lchanadigan eritgich omili. Namuna (110±10) 0C haroratda doimiy massagacha quritiladi, eritish uchun idishda tortiladi va namuna massasining o‘zgarishi natijasi verguldan keyingi to‘rtinchi kasrgacha aniqlik bilan qayd etiladi.

,

bunda WL — namuna massasining foizida (1025±25) 0C haroratda qizdirish paytida massaning nisbiy o‘zgarishi.

a) bandida ko‘rsatilganidek, namunani qizdirilgan yoki qizdirilmagan eritgich bilan aralashtirishga ruxsat beriladi.

Izoh — xrom oksidi yoki sirkoniy dioksidni o‘z ichiga olgan materiallarni eritish xususiyatlari 9.4 da tasvirlangan.

Namuna va eritma birgalikda eritiladi, namuna to‘liq eriguncha va eritmaning bir xil konsistensiyasi hosil bo‘lguncha aralashtiriladi.

Eritishning dastlabki bosqichida karbonat namunalari sachramaslik uchun asta-sekin eritiladi.

Izohlar

1. Ohaktosh, dolomit yoki magniy karbonatidan quritilgan namunalar qizdirish paytida massa o‘zgarishini hisobga olgan holda tortiladi.

2. Eritmaning harorati material turiga bog‘liq.

3. Disklarni qo‘lda quyish

4. Asosiy qoidalar

Eritish idishida 9.1.3 eritma, quyma qolip va isitish idishi (agar kerak bo‘lsa) muffle pechida (1200±50) 0C haroratgacha isitiladi va 5 daqiqa davomida saqlanadi. Keyin disklarni quyidagi usullardan biri bilan quyish amalga oshiriladi:

1. diskni pechdan tashqarida quyish. Isitish idishi (5.3) pechdan (5.5) chiqariladi, gorizontal yuzaga o‘rnatiladi va unga tezda quyish uchun qolipga o‘rnatiladi (5.2). Qopqoq eritish idishidan (5.1) yechiladi va eritma tezda quyma qolipga quyiladi;

2. diskni pechda quyish. Qopqoq eritish idishidan yechiladi va eritma to‘laligicha pech ichidagi quyma qolipga quyiladi. Quyma qolip pechdan olinadi va gorizontal yuzaga qo‘yiladi.

3. kombinatsiyalangan eritish shakli yordamida diskni quyish. Qolip pechdan chiqariladi. Agar qolip uchun moy ishlatilmasa, eritma uning chetidan oqib ketishi mumkin. Shuning uchun, idishning eritish qismida eritma bilan ishlash juda katta ehtiyotkorlikni talab qiladi. So'ngra, eritish qolipi sovutish uchun grafit g‘ishti ustiga o‘rnatiladi.

4. diskni gorelka ustida isitilgan quyma qolip yordamida quyish. Eritma oldindan qizdirilgan quyma qolipga quyiladi va gorelka o‘chiriladi. Eritmaning sovutish jarayonini tezlashtirish uchun havo oqimi yoki suv bilan sovutiladigan metall plitadan foydalanishga ruxsat beriladi.

Agar quyish jarayonida yuqori sirt bo'rtma bo‘lib chiqqan bo‘lsa, uni keyinchalik tahlil qilish uchun ishlatish mumkin emas, chunki bu natijalarda xatolarga olib kelishi mumkin. Bunga yo‘l qo‘ymaslik uchun eritma markazda emas, balki shaklning chetidan quyiladi. Bir tekis egrilik bilan yuqori sirtni olish uchun doimiy massali disklar olinmaguncha qolipga iloji boricha ko‘proq eritma quyiladi.

Izoh — olovbardoshlarlarning aksariyati 0,1 % dan kam Cr2 O3, ZrO2 va α—Al2O3 ni o‘z ichiga olganligi sababli, eritmaning kristallanishi 1200 (±50) 0C dan past haroratda eritilganda sodir bo‘ladi. Eritmaning kristallanishi bo‘lmasa va standart kalibrlash disklari xuddi shu tarzda ishlab chiqarilgan bo‘lsa, eritishni 1050 (±25) 0C dan yuqori bo‘lmagan haroratda amalga oshirishga ruxsat beriladi.

Sovutganda quyma diskning yorilishini oldini olish va uni qolipdan olish qulayligi uchun eritmaga oz miqdorda litiy yodid yoki yodat yoki ammoniy yodat qo‘shishga ruxsat beriladi. Yod chizig‘i TiKα ning qisman qoplamasiga ega, shuning uchun TiO2 ning past tarkibini aniqlashda tuzatishdan foydalanish kerak bo‘lishi mumkin.

Kichik miqdordagi moylash materiallaridan foydalanganda barcha namunalar va har bir kalibrlash standart diskida bir xil miqdordagi va disklarni ishlab chiqarishning bir xil bosqichida qo‘shilgan bir xil sirt faol moddalar bo‘lishi kerak. Shakllarni doimiy ravishda yaxshilab tozalash bilan, ko‘p miqdordagi Cr2O3 ni o‘z ichiga olgan namunalar bundan mustasno, moylash vositasidan foydalanish shart emas.

NH4Br yoki LiBr dan foydalanishga ruxsat beriladi. Ammo Br Lα chizig‘i AI Kα chizig‘i yonida joylashgan. Ushbu chiziqlarning ustma-ust tushirilishi tufayli ko‘p miqdordagi brom ishtirokida alyuminiyning past konsentratsiyalarini aniqlash qiyin bo‘lishi mumkin va tuzatishlarni qo‘llash kerak bo‘lishi mumkin.

Alyuminiy oksidining past konsentratsiyalarini aniqlashda yodidlar yoki yodatlardan foydalanish tavsiya etiladi. Qo‘shiladigan NH4Br yoki LiBr miqdori namuna grammiga 1 mg dan oshmasligi kerak. Xrom bilan qoplangan rentgen trubkasidan foydalanganda brom ta’sirining ta’siri kuchliroq bo‘ladi va brom asosidagi moyni ishlatishdan oldin bromning alyuminiyga ta’siri darajasi tekshiriladi.

32. Disklarni sovutish

Kasting shaklidagi disk gorizontal yuzada sovutiladi. Havo oqimi ishlatilganda, eritma qizil olovga soviganida, shakl reagent bilan sovutiladi. Ushbu bosqichda eritma suyuq yoki qattiq holatda bo‘lishi mumkin; agar u suyuq bo‘lsa va diskning yuqori yuzasi o‘lchanadigan bo‘lsa, havo oqimi ustida joylashgan tripod gorizontal holatda ekanligiga ishonch hosil qilish kerak.

Shakl havo oqimi ustida gorizontal holatda saqlanadi, shunda reagent shakl poydevorining Markaziy qismiga yo‘naltiriladi. Disk qattiqlashganda va qolipdan ajratilganda, havo oqimi o‘chiriladi.

Izoh — Diskni qolipdan olib tashlashni tezlashtirish uchun qolipni qattiq yuzaga ehtiyotkorlik bilan urishga ruxsat beriladi.

33. Disklarni avtomatik tarzda quyish

9.1.2 va 12.1 ga muvofiq uskunalar yordamida disklarni avtomatik ravishda quyishga ruxsat beriladi.

34. Disklarni saqlash

Disklar hidratsiya va ifloslanishni istisno qiladigan sharoitlarda saqlanadi.

Tahlil qilishdan oldin disklarning sirtini yaxshilab tozalash va/yoki parlatish kerak.

Izohlar — ifloslanish manbalariga quyidagilar kiradi:

1. vakuum moyi spektrometridan yoki laboratoriya havosidan oltingugurt;

2. laboratoriya dengiz yaqinida joylashgan bo‘lsa, laboratoriya havosida natriy va xlor mavjud;

3. sigaret tutunidan kaliy;

4. disklar saqlanishi mumkin bo‘lgan plastik qoplardan ifloslanishlar.

35. Maxsus xarakterdagi muammolar

Sirkoniy dioksidi va xrom oksidi yuqori bo‘lgan namunalarning erishi qiyin bo‘lishi mumkin. Xrom oksidi suyuq eritgichda yaxshi erimaydi va sirkoniy dioksidi bu kamchilikka kamroq ega, ammo namuna to‘liq eritilgandan keyin ham soviganida kristallanishga olib kelishi mumkin.

Belgilangan oksidlarning eng yuqori tarkibiga ega bo‘lgan sinov eritmalaridan foydalanib, optimal parametrlarni o‘rnatish kerak: silliq, buzilish va eritgich o‘rtasidagi nisbat, kerakli harorat va erish vaqti. Odatda xrom o‘z ichiga olgan materiallar, sirkon va sirkoniy oksidi turli xil erish sharoitlarini talab qiladi.

Izoh — 9.3-da ko‘rsatilgan saqlash shartlariga rioya qilingan taqdirda ham, ZrO2 miqdori yuqori bo‘lgan disklar sirtdagi namlikni boshqa materiallardan tayyorlangan disklarga qaraganda ko‘proq singdirishi odatiy holdir. Bu yengil elementlarni tahlil qilishda fonning oshishiga olib keladi. Ushbu muammoni disklarni 220 0C haroratda (8-10) soat davomida quritish orqali hal qilish mumkin.

36. Kalibrlash

37. Kalibrlash uchun standart namunalar

Kalibrlash bog‘liqliklari va hujayralararo tuzatishlar turi toza reagentlardan olingan disklar yoki standart namunalar to‘plamlari (SeRM) yordamida o‘rnatiladi. To‘plamdan olingan namunalar (SeRM) sof reagentlar yordamida olingan kalibrlashni tasdiqlash uchun ishlatiladigan sertifikatlangan standart namunalardan (CRM) farq qiladi. Standart namunalar to‘plamlari (SeRM) va sertifikatlangan standart namunalar (CRM) mos ravishda D- va E-ilovalarida keltirilgan. 10.2.2 va 10.4.1 talablariga javob beradigan sertifikatlangan standart namunalar (CRM) seriyalari standart namunalar to‘plami (SeRM) sifatida baholanishi mumkin.

Izoh — kerakli aniqlikni ta’minlaydigan sertifikatlangan kimyoviy tahlil usullari bilan tahlil qilingan bir xil namunalardan foydalanishga ruxsat beriladi.

38. Reagentlar va standart namunalar to‘plamlari (SeRM)

39. Reagentlarning tozaligi va tayyorlanishi

Kationlar uchun standart disklarni tayyorlash uchun ishlatiladigan reagentlar mikrokomponentlar uchun kamida 99,95 % toza (namlik yoki CO2 bo‘lmasa) va kremniy va alyuminiy oksidlari uchun kamida 99,99 % toza bo‘lgan toza oksidlar yoki karbonatlar bo‘lishi kerak. Barqaror oksidlar va karbonatlarni hosil qilmaydigan oltingugurt va fosfor kabi elementlarni kalibrlash uchun kafolatlangan stoxiometriya talab qilinadi.

Eritishdan oldin reagentlarda namlik bo‘lmasligi va oksidlarda karbonat angidrid bo‘lishi muhimdir. Tortish paytida ularning massasi bunga qarab tuzatilishi kerak. Shuningdek, reagentlarning oksidlanish darajasi ma’lum bo‘lishi kerak.

Kalibrlash uchun ishlatiladigan reagentlar yuqori darajada toza bo‘lishi kerak. Reagentlarning yangi partiyalarini sotib olayotganda ularni oldingi partiyalar bilan taqqoslash kerak. Buning uchun reagentlarning yangi partiyasidan aniqlanadigan elementning eng yuqori kalibrlangan tarkibiga ega disk tayyorlanadi va uning tarkibi o‘lchanadi. Olingan natija bir xil reagentlarning oldingi partiyasidan tayyorlangan shunga o‘xshash diskni tahlil qilish natijasi bilan taqqoslanadi. Elementlarning nurlanish intensivligi, reagentda mavjud bo‘lganlar bundan mustasno, ushbu element uchun aniqlash chegarasidan yuqori bo‘lmasligi kerak.

Ma’lum stexiometrik tarkibga ega reagentlarni olish uchun ularni ishlatishdan oldin quyidagi operatsiyalarni bajarish kerak:

1. kremniy, alyuminiy va magniy oksidlari: 5 g materialni 1200 (±50) 0C haroratda kamida 30 daqiqa davomida yoqish orqali reagentlar to‘pini olgandan keyin qizdirish paytida massa o‘zgarishini aniqlang, namunani eksikatorda xona haroratiga qadar sovutib oling va qayta torting. Qizdirish paytida massa o‘zgarishini hisobga olgandan so‘ng, standart diskni tayyorlash uchun kerakli miqdordagi pishirilmagan material tortiladi;

2. marganets oksidi (Mn3O4), titan oksidi (IV), nikel oksidi (II), xrom oksidi (III), sirkoniy oksidi, gafniy, seriy, itriy, lantan va boshqa noyob tuproq elementlari oksidlari: ≤ 5 g materialni (1000 ± 25) 0C da kamida 30 daqiqa va eksikatorda xona haroratiga qadar sovutiladi;

Izoh — noyob tuproq elementlari atmosferadan suv va karbonat angidridni o‘zlashtiradi.

3. temir  oksidi (III), qalay  oksidi (IV), kobalt oksidi (Co3 O4) va litiy ortofosfat: ≤ 5 g materialni (700 ± 25) 0C haroratda kamida 30 daqiqa davomida yoqing va xona haroratiga qadar eksikatorda sovutib olinadi;

4. kaltsiy, bariy, stronsiy, kaliy va natriy karbonatlar, volfram oksidi, galliy oksidi, litiy sulfat: material (230 ± 20) 0C da quritiladi va xona haroratiga qadar eksikatorda sovutiladi.

Kalibrlash uchun boshqa oksidlar yoki ularning aralashmalari yetarli darajada tozaligi bilan ishlatilishi mumkin, agar ularning stexiometriyasi qizdirish va boshqalar kabi usul bilan ta’minlangan bo‘lsa. Bundan tashqari, bunday elementlar yoki oksidlarning uchuvchanlik darajasini ham, eritish idishi materiali bilan birlashishga moyilligini ham hisobga olish kerak [5] — [9]. Kalibrlash ushbu standartning boshqa barcha talablariga javob berishi kerak.

Izoh — quritish uchun odatda ikki soat yetarli bo‘ladi.

Agar namunani maydalashda volfram karbid (WC) ishlatilsa, u holda WC ifloslanadi. Namunani maydalash uchun volfram karbididan foydalanadigan laboratoriyalar namunalarda volfram borligini nazorat qilish va WC aralashmasi uchun qizdirish paytida tahlil natijalari va massa o‘zgarishini tuzatish uchun asbobni WO3 ga tuzatishi kerak, 5-bo‘lim.

Nam kimyoviy tahlildan farqli o‘laroq, rentgen-fluoressent tahlil usulida volfram va ifloslantiruvchi volfram o‘rtasida sezilarli aralashuv mavjud emas, chunki ularni osongina boshqarish mumkin.

Nopoklik volframining massa ulushi 0,5 % dan oshsa, natijalarni tuzatish kerak, B-ilovasi.

40. Standart namunalar to‘plamlarini tayyorlash (SeRM)

Kalibrlash uchun sintetik standart namunalar o‘rniga standart namunalar to‘plamlari (SeRM) ishlatiladi, ular quyidagi talablarga javob berishi kerak:

1. ГОСТ R 8.315 ga muvofiq bo‘lishi kerak;

2. konsentratsiyalarning o‘lchov diapazoni bo‘yicha teng taqsimlanishini ta’minlash hisobga olgan holda ishlab chiqilgan bo‘lishi kerak;

3. komplekt namunalaridagi (SeRM) oksid konsentratsiyalaridagi farqlar bir-biridan mustaqil bo‘lishi kerak;

4. bitta to‘plamda kamida o‘nta namuna (SeRM) bo‘lishi kerak;

5. to‘plamlar bir xil bo‘lishi kerak;

6. ularni sertifikatlashda laboratoriyalararo va laboratoriya ichidagi aniqlik ko‘rsatkichlari to‘g‘risida to‘liq statistika to‘planishi kerak;

7. kimyoviy tahlil natijalari boshqa yo‘l bilan tekshirilishi kerak, masalan, induktiv bog‘langan plazma bilan atom emissiya tahlili.

8. Reagentlar yordamida kalibrlash

9. Standart kalibrlash disklari

Ikki komponentli (binarli) standart kalibrlash disklaridan foydalanish tavsiya etiladi.

Ushbu standart disklar bo‘yicha amalga oshirilgan kalibrlashlar bir xil ma’noli hisoblanadi, tortish jarayonida xatolar osongina aniqlanadi va tuzatiladi.

Izoh — barcha mezonlarga javob beradigan ko‘p oksidli sintetik standart disklar ustiga qurilgan ko‘p chiziqli (ko‘p chiziqli) regressiyani qo‘llash jiddiy muammolarni keltirib chiqarishi mumkin: tortish xatolari va qisman chiziqli qoplama effektini istisno qila olmaslik.

43. Ikki va uch komponentli standart disklar yordamida kalibrlash usuli

44. Umumiy qoidalar

Usulning printsipi oddiy sof oksidlar yoki karbonatlarning oddiy aralashmalaridan kalibrlash standart disklarini o‘rganilayotgan disklar bilan bir xil usulda tayyorlashdir. Bunday standart disklarning tarkibi kalibrlashning uchta tarkibiy qismining har birini aniq va mustaqil ravishda aniqlash uchun ishlab chiqilgan:

1. kalibrlash egri shaklini tavsiflash uchun koeffisientlar;

2. chiziq qoplamasini tuzatish;

3. alfa koeffisientlari kabi massa yutilishini tuzatish.

Ushbu usulning afzalligi shundaki, har bir parametr boshqasidan to‘liq ajratilgan — bu standart disklarni tortishda xatolarni aniqlashni osonlashtiradi. Ushbu usulning birinchi bosqichi ko‘p elementli kalibrlashga qaraganda ko‘proq standart disklarni talab qilishi mumkin. Amaldagi standart drayvlar bitta, ikkita, lekin ko‘pi bilan uchta komponentni qo‘shishni o‘z ichiga oladi. Shuning uchun, bir marta olingan kalibrlashlarni analitik diapazonni kengaytirish orqali to‘ldirish oson. Bundan tashqari, qo‘shimcha elementlarni allaqachon o‘rnatilgan kalibrlash koeffisientlarini o‘zgartirmasdan yoki qayta o‘lchamasdan, chiziqli qoplama koeffisientlarini tuzatmasdan yoki massa yutilishini sozlamasdan kiritish mumkin.

45. Matritsani aniqlash

3-bo‘limda keltirilgan materiallar ro‘yxati uch turdagi matritsalarga bo‘linadi:

1. bitta asosiy komponent, masalan, sirkoniy oksidi;

2. ikkita asosiy komponent, masalan, alyumosilikatlar;

3. uch yoki undan ortiq asosiy komponentlar, masalan, xrom rudalari.

Birinchi holda, asosiy oksidning 100 % tarkibi matritsa sifatida tanlanishi mumkin, unga o‘zgartirish kiritilishi mumkin. Bu kalibrlash diapazonini minimal kuch bilan kengaytirishga imkon beradi. Mikrokomponentlarni kalibrlash asosiy va qo‘shimcha oksidlardan tashkil topgan ikki komponentli aralashmalar yordamida amalga oshiriladi, ular 100 % ni tashkil qiladi.

Boshqa ikkita holatda, bitta komponent asosiy komponent sifatida tanlanadi va u bilan 10.3.2.4 ga muvofiq ikki komponentli disklar tayyorlanadi. Odatda dominant oksid tanlanadi, masalan, SiO2 — alyumosilikatlilar uchun. Birinchi holatdan farqi shundaki, ikkinchi asosiy oksidning 100 % tarkibi birinchi asosiy oksid uchun nol nuqta sifatida qabul qilinadi. Ushbu ikkita asosiy oksidni kalibrlash ushbu komponentlarning ikkilik aralashmasidan amalga oshiriladi. Chiziqli qoplama bilan tuzatish asosiy oksidning 100 % tarkibiga muvofiq amalga oshiriladi (asosiy oksid uchun tuzatish ikkinchi asosiy oksidning 100 % tarkibiga muvofiq amalga oshiriladi).

Massa absorbsiyasi koeffisientlari odatda 10.3.2.9—10.3.2.11 gacha bo‘lgan mikrokomponent va asosiy oksiddan tashkil topgan ikki komponentli aralashmada takroriy o‘zgarishlarni amalga oshirish uchun hisoblanadi.

46. Siljishni tuzatish

Spektrometrning siljishi quyidagi usullar bilan tuzatiladi:

1. standart disklarni boshqarish (hisoblash tezligini qoplash).

Ushbu usul yordamida har bir element uchun cho‘qqisiz fon (asos) o‘lchanadi.

Nazorat qiluvchi standart disklar — bu statistik noaniqlikdan kichikroq yoki teng bo‘lgan statistik kalibrlash noaniqligi bilan hisoblash tezligini olishga imkon beradigan konsentratsiyali barcha aniqlanadigan elementlarni o‘z ichiga olgan barqaror namunalar. Kalibrlash boshlanishidan oldin standart nazorat uchun hisoblash tezligi qayd etiladi va har safar sinov disklarini birinchi o‘lchashdan oldin foydalaniladi.

Birinchi o‘lchovning hisoblash tezligi, masalan, birlamchi kalibrlash va oxirgi o‘lchovlar spektrometr ko‘rsatkichlarining siljishi uchun tuzatish omilini saqlaydi va hisoblab chiqadi.

Agar maksimal siljish ± 30 da siljish koeffisienti 1,3 dan katta va 0,7 dan kichik bo‘lsa, qayta kalibrlash (b usuli) kerak %;

2. siljishni tuzatish uchun standart disklarga muvofiq (qayta kalibrlash standartlari).

Orqa fon yoki sezgirlikning siljishini qoplash uchun siljishni tuzatish uchun bir qator standart disklardan foydalaning. Bunday seriyadagi har bir element uchun aniqlanadigan diapazonni ta’minlash uchun nol va eng yuqori komponentli namuna bo‘lishi kerak. Massa ulushini o‘lchash diapazonining yuqori chegarasi 0,6 dan oshib, aniqlangan oksidning maksimal massa ulushi qiymatiga ko‘paytirilishi kerak. 100 % asosiy oksidni o‘z ichiga olgan qo‘shimcha standart disk boshqa barcha komponentlar uchun nol nuqta bo‘lib xizmat qiladi (ikkinchi asosiy komponentning 100 % tarkibi birinchi asosiy komponent uchun nol nuqta bo‘lib xizmat qiladi). Ba’zi hollarda, masalan, chiziq qoplamasi mavjud bo‘lganda, muqobil variantga ehtiyoj paydo bo‘lishi mumkin, masalan, SiO2 ning 100 % tarkibi Sr Lα uchun nol bo‘lib xizmat qila olmaydi yoki Ba Lα uchun TiO2 ning 100 % tarkibi.

Xatolarni tuzatish uchun bitta standart diskda bir-birining ustiga chiziqli qoplamali ikkita elementni birlashtirish xato.

Siljishni tuzatish uchun standart disklar bir necha kun davom etishi mumkin bo‘lgan kalibrlash jarayonida o‘lchanadi.

Izoh — Odatda siljishni tuzatish uchun standart disklar kalibrlash disklari sifatida ishlatilmaydi.

Ushbu standart disklar har safar disklarni o‘rganishda ishlatiladi. Ko‘pgina o‘lchash asboblariga ilova sifatida taqdim etilgan dasturiy ta’minot ikki nuqta uchun o‘lchov natijalari bo‘yicha avtomatik ravishda qayta kalibrlashni amalga oshiradi. Bunday dasturiy ta’minot bo‘lmasa, u 11.3 da keltirilgan algoritmlarga muvofiq foydalanuvchining o‘z dasturiga kiritilishi mumkin.

47. Kalibrlash uchun standart disklar

Asosiy va aniqlanadigan oksidlardan tashkil topgan ikki komponentli aralashmalar uchun nol nuqtaga qo‘shimcha ravishda quyidagi standart disklar tayyorlanadi:

- aniqlanadigan oksid miqdori 2 % dan kam bo’lganda konsentratsiyalar taxminan teng taqsimlangan holda kamida ikkita;

- aniqlanadigan oksid miqdori 10 % dan kam bo’lganda konsentratsiyalar taxminan teng taqsimlangan holda kamida uchta;

• aniqlanadigan oksid miqdori 20 % dan kam bo‘lgan konsentratsiyalarning taxminan teng taqsimlangan holda kamida to‘rtta;

• kamida bitta 5 % namuna va plyus 10 %; 20 %; 30 % va boshqalar kalibrlash diapazonidan                   10 % ga ko‘p bo‘lgan keyingi butun songacha, lekin 20 % dan ortiq aniqlangan oksid bo‘lganda 100 % ko‘p bo‘lmagan.

Izohlar

1. Ko‘p oksidli sintetik standart disklar yoki standart namunalar to‘plamidan (SeRM) foydalanishga ruxsat beriladi.

2. Kerakli o‘lchov aniqligini ta’minlaydigan sertifikatlangan kimyoviy tahlil usullari bilan tahlil qilingan bir xil namunalardan foydalanishga ruxsat beriladi.

3. Kalibrlash koeffisientlarini hisoblash

“Intensivlik — konsentratsiya” yoki “nisbiy intensivlik — konsentratsiya” grafigi tuziladi. Agar biron bir nuqta grafikka tushmasa, standart diskning takroriy o‘lchamlari amalga oshiriladi. Agar nuqta yana grafikka tushmasa, yangi disk tayyorlanadi.

Ko‘pgina kalibrlashlar to‘g‘ri chiziqlar bo‘lganligi sababli, intensivlikning konsentratsiyaga bog‘liqligini tavsiflash uchun chiziqli tenglamalardan foydalaning va keyin noma’lum konsentratsiyalarni hisoblang. Agar kalibrlashlar egri shaklga ega bo‘lsa, ular uchta usuldan biri bilan tavsiflanadi:

1. kvadrat tenglama;

2. o‘zi tomonidan tahlil qilingan oksidning massa absorbsiyasi uchun tuzatishni qo‘llagan holda chiziqli tenglama. Ushbu tenglama taxminan kvadrat tenglama bilan bir xil va ba’zida dasturiy ta’minot ishlab chiquvchilari uchun bu kvadratik bog‘liqlikni ifodalashning yagona usuli;

3. tahlil qilinayotgan moddada asosiy oksid tomonidan massa so‘rilishini tuzatish yordamida chiziqli tenglama.

Izoh — namunalar soni 10 dan kam bo‘lsa, ushbu tenglamalardan foydalanish tavsiya etilmaydi.

Egrilik radiusi juda katta bo‘lgan egri chiziqlar uchun, masalan, alyumosilikatlilardagi alyuminiy oksidi uchun ko‘rsatilgan uchta usuldan biri qo‘llaniladi. Aniq egri chiziqlar uchun c) usuli qo‘llaniladi, ammo agar bog‘liqlik chiziqli bo‘lmasa, c) usuli bilan bir qatorda muqobil usullar a) yoki b) qo‘llaniladi.

49. Chiziq qoplamasini tuzatish uchun standart disklar

Barcha holatlarda ular 10.3.2.4 da keltirilgan standart disklardan foydalanadilar. Bitta asosiy komponentdan tashkil topgan matritsada ushbu standart namunalar yetarli. Matritsada ikkita asosiy oksid mavjud bo‘lganda, ikkinchi asosiy oksid chizig‘idagi nopoklik komponenti chiziqlarining ustma-ust joylashishini tuzatish uchun qo‘shimcha standart disklar to‘plami talab qilinadi. Ushbu standart disklar ikki komponentli aralashmalardan (nopoklik komponenti va ikkinchi asosiy oksid) iborat bo‘lib, ularning umumiy konsentratsiyasi 100 % ni tashkil qiladi. Ushbu aralashmalarga qo‘shilgan nopoklik oksidi miqdori kalibrlashda uning maksimal miqdoriga teng yoki undan ko‘p bo‘lishi kerak.

Izoh — 10.3.2.8 uchun massa yutilishini tuzatish koeffisientlarini aniqlash uchun ikki komponentli standart disklar to‘plamidan foydalanishga ruxsat beriladi.

50. Chiziqlar qo‘yishni tuzatish

Kalibrlash koeffisiyentlari qiymatlarini dastlabki aniqlashda ular 10.3.2.4 bo‘yicha ikki komponentli standart disklar to‘plamini spektrometrda o‘lchashda noma’lum miqdorlar sifatida hisoblanadi.

Ikki komponentli aralashmalarda o‘lchangan elementlarning tarkibi ro‘yxatga olinadi va chiziqlar qoplamasini tuzatishni hisoblash uchun ishlatiladi. Bunday standart disklarning to‘plamlari mavjud bo‘lganligi sababli, taqqoslash orqali natijalardagi xatoni aniqlash mumkin. O‘rtacha chiziqli aralashtirish koeffisientlarini hisoblashda ko‘proq aralashuvchi elementni o‘z ichiga olgan standart disklarga ko‘proq ahamiyat beriladi.

Agar dasturiy ta’minot qurilmaning siljishini tuzatishni chiziqlar qoplamasi bilan birlashtirishga imkon bermasa, konsentratsiyani tuzatish amalga oshiriladi. Bunday holda, intensivlikning yaqinlashishi xatolarga olib kelishi mumkin, chunki vaqt o‘tishi bilan kristallar va sensorlarning sezgirligi o‘zgaradi. Konsentratsiyani tuzatish uchun chiziqli qoplamalar 1 % aralashuvchi oksid sifatida ifodalanadi, bu esa tahlil qilingan oksidning x % ga teng bo‘lgan qoplamani hosil qiladi, bu yerda x chiziqlarning o‘zaro bog‘lanish koeffisienti hisoblanadi.

Ushbu tuzatishlar tahlil davomida ommaviy so‘rilish tuzatishlari bilan birga takrorlanadi.

Fon effektlari uchun ham xuddi shunday yondashuvga ruxsat beriladi, garchi ZrO2 ning Na Kα va Mg Kα ga ta’siri bo‘lsa, ZrO2 tarkibi 20 % dan yuqori bo‘lsa, ikkinchi darajali munosabatlar zarur bo‘lishi mumkin.

Kristal detektori tomonidan ro‘yxatga olingan to‘lqin uzunligi bilan bir xil bo‘lgan kuchli birinchi darajali chiziqlar qo‘llanilganda, noiterativ intensivlik tuzatishlari afzalroq bo‘lishi mumkin. Tanlov faqat laboratoriyada qoladi, ammo tuzatish turi va uni tanlash sababi hisobotda ko‘rsatilgan.

51. Ommaviy so‘rilishini tuzatish uchun standart disklar

10.3.2.4 Standart kalibrlash disklari asosiy komponentlar tomonidan nopoklik komponentlarining massa singishini to‘g‘irlaydigan koeffisientlarni hisoblash uchun ishlatiladi. Agar kerak bo‘lsa, standart kalibrlash disklari va 10.3.2.6 usuli ikkinchi asosiy komponentlar tomonidan nopoklik komponentlarining massa singishini to‘g‘irlaydigan koeffisientlarni hisoblash uchun ishlatiladi va aksincha. Asosiy komponentlarning bir-biri yoki nopoklik komponentlari tomonidan ommaviy so‘rilishini tuzatish koeffisientlari ko‘pincha asbobning dasturiy ta’minoti yordamida olingan regressiya komponentlari sifatida aniqlanadi.

Nopoklik komponentlarining bir-biri bilan massa singishini tuzatish koeffisientini aniqlash uchun standart disklar maksimal tarkibiga ega bo‘lgan ikkita nopoklik komponentidan va 100 % gacha asosiy oksid qo‘shimchasidan iborat uch komponentli aralashmalardan foydalanishni talab qiladi.

Agar boshqa ko‘rsatmalar bo‘lmasa, standart disklar tortish xatosini tekshirish uchun takrorlanadi. Ammo sakkizta nopoklik komponentlari uchun ham standart disklarning ikki to‘plamini yaratish uchun ko‘p vaqt talab etilishi sababli, bir xil matritsa va rentgen trubkasi uchun oldindan hisoblangan empirik massa yutilishini tuzatish koeffisientlari mavjud bo‘lganda yoki nazariy jihatdan hisoblangan massa yutilishini tuzatish koeffisientlari mavjud bo‘lganda muqobil yondashuvdan foydalanishga ruxsat beriladi.

Nazariy tuzatishlar spektrometr ishlab chiqaruvchisi tomonidan o‘rnatilishi, tegishli ichki dasturiy ta’minot yordamida yoki sotuvda mavjud bo‘lgan boshqa dasturiy ta’minot yordamida hisoblanishi mumkin. Ommaviy absorbsiyani tuzatishning nazariy koeffisientlarini hisoblash uchun ishlatiladigan model F-ilovasida keltirilgan.

Xuddi shu anodli rentgen trubkasiga ega bo‘lgan boshqa spektrometrda oldindan belgilangan qiymatlardan 3-bo‘limga muvofiq tahlil qilinadigan materialning o‘xshash turi va bir xil miqdordagi eritgich/sinov nisbati uchun foydalanishga ruxsat beriladi.

Maxsus ishlab chiqarilgan standart disklar o‘rniga quyidagi shartlarga rioya qilingan holda ommaviy absorbsiyani tuzatishning nazariy va empirik koeffisiyentlaridan foydalanishga ruxsat beriladi:

1. αij × Cij < 0,025,                                                                                    (2)

bunda α ij—tahlil qilinayotgan oksidga ustma—ust tushadigan oksidning massa yutilish koeffisienti;

C ij—aralashuvchi oksidning foizida ifodalangan maksimal konsentratsiya.

Izoh — shartga rioya qilish a) elementni aniqlashda xatolikni 1000 ning besh qismigacha cheklaydi, agar ishlatilgan massa yutilish koeffisienti xatosi 20 % ga teng bo‘lsa;

b) massa yutilish koeffisienti aralashuvchi element chizig‘i bilan qoplama joyida aniqlangan element chizig‘ining intensivligini yutish bilan bog‘liq emas.

Agar shartlar a) yoki b) bajarilmasa, sintetik standart disklar massa yutilishini tuzatishning empirik koeffisientlarini o‘rnatish uchun tayyorlanadi.

Izoh — tahlil paytida aks ettirish burchagi va qo‘zg‘alish kuchlanishining (kV) turli qiymatlaridan foydalanishga ruxsat beriladi. Bunday holda, o‘lchov tuzatish olib tashlangan bir xil sharoitlarda amalga oshiriladi.

52. Massa yutilishini tuzatish koeffisientlari uchun model

                                                         nVc = Vu (1 + Σαij × Cj),                   (3)

bunda αij — i oksidni tahlil qilishda aralashuvchi oksid j ning massa yutilish koeffisienti; 

Cij — aralashuvchi oksid i ning maksimal konsentratsiyasi;

Vu — standart namuna uchun spektrometrdan olingan tahlil qilingan oksidning aniq intensivligi, nisbati yoki konsentratsiyasi (chiziqli qoplama yoki fon effektiga moslashtirilgandan so‘ng) (tuzatishdan oldingi qiymat);

Vc — standart namunadagi aniqlanadigan elementning haqiqiy konsentratsiyasiga mos keladigan kalibrlash grafigidan olingan haqiqiy intensivlik yoki nisbat; yoki, agar konsentratsiyalar ishlatilsa, haqiqiy konsentratsiyalar (tuzatishdan keyingi qiymat).

Qayta ishlangan disklar bilan kalibrlash odatda murakkab sharoitlarni talab qilmaydi.

53. Massa yutilishini tuzatish koeffisientlarini hisoblash

Ommaviy absorbsiyani tuzatish koeffisientlarini aniqlash uchun ishlatiladigan standart disklar har bir tuzatishni alohida aniqlash uchun mo‘ljallangan va shuning uchun birlik ta’siri (3) formula bo‘yicha hisoblanadi:

                                            (4)

Barcha V qiymatlari uchun intensivlik, nisbiy intensivlik yoki konsentratsiya kabi bir xil qiymatlar qo‘llaniladi.

Parallel ta’riflar orasidagi farq ∆αij, massa yutilish koeffisientlarining empirik qiymatlari (2) formula bo‘yicha ∆αij × С j < 0,005 bo‘lishi kerak.

∆αij × Cj < 0,005 ning yagona ta’rifi bo‘lsa, bu yerda ∆αij koeffisientning empirik va nazariy qiymati o‘rtasidagi farqdir. Agar ushbu shart bajarilmasa, tegishli disklarni qayta tiklash kerak. Agar natija yana qoniqarli bo‘lmasa, massa yutilish koeffisientlarini qayta aniqlash uchun yangi disklar ishlab chiqariladi.

54. Nazariy massa yutilish koeffisientlarini aniqlash mezonlari

Empirik yutilish tuzatishlarni hisoblash uchun ko‘plab standart disklarni tayyorlash zarurligini istisno qilish uchun spektrometr ishlab chiqaruvchisi tomonidan mustaqil ravishda ishlab chiqilgan, rasmiy ravishda sotib olingan yoki ishlab chiqilgan dasturlardan foydalangan holda maqbul nazariy tuzatishlarni hisoblash mumkin.

Amaldagi dastur quyidagi mezonlarga javob berishi kerak:

1. amaldagi model nafaqat massa yutilishining lyuminestsent nurlanishga ta’sirini, balki qo‘zg‘atuvchi nurlanishni ham o‘z ichiga olishi kerak. Ikkinchisini bitta to‘lqin uzunligi deb hisoblash mumkin;

2. amaldagi model qo‘zg‘atuvchi nurlanishning namunaga tushish (kirish) burchagini va lyuminestsent nurlanish namunasidan chiqish burchagini aniqlashga imkon berishi kerak;

3. eritgich massasi/namuna massasi nisbati doimiy deb hisoblanadi;

4. nazariy koeffisientlarni hisoblash uchun ishlatiladigan matritsa 10.3.2.2 kalibrlash uchun ishlatiladigan matritsaga mos kelishi kerak.

10.3.2.5 da kalibrlash koeffisientlarini olishning turli usullari keltirilgan.

Ko‘pgina zamonaviy asboblar yuqorida aytib o‘tilgan talablarga javob bermaydi. Bunday holda, koeffisientlar 10.3.2.1 da tasvirlanganidek tekshirilishi kerak.

Agar asbobning dasturiy ta’minoti α ning massa yutilish koeffisientlari bilan tuzatishga ruxsat bermasa, lekin asosiy parametrlardan foydalansa, kalibrlashning to‘g‘riligi sertifikatlangan standart namunalar (CRM) bilan tekshirilishi kerak. Sertifikatlangan standart namunalar (CRM) mavjud bo‘lmagan taqdirda, standart korxona namunalari yoki sintetik standart disklardan foydalanishga ruxsat beriladi.

Agar kalibrlash paytida aniqlanadigan asosiy oksid uchun massa yutilishini tuzatish koeffitsientlari talab qilinmasa, u holda matritsa aniqlanadigan element oksidi va matritsaning asosiy oksididan iborat ikki komponentli aralashma hisoblanadi.

Ta’sir qiluvchi oksidni qo‘shishning ta’siri matritsaning asosiy oksidini almashtirishdir. Matritsa — matritsaning asosiy oksidi bilan kalibrlangan aniqlangan oksidning maksimal miqdori aralashmasi, jami 100 % ni tashkil qiladi.

Agar tuzatish asosiy oksidning aniqlanadigan oksidga matritsa ta’sirini hisobga olish uchun ishlatilsa, u holda matritsa aniqlanadigan oksidning 100 % ni tashkil qiladi va ta’sir qiluvchi oksidni qo‘shishning ta’siri aniqlanadigan oksidni almashtirishdir.

55. Ko‘p elementli kalibrlash

56. 10.3.1 va 10.3.2.1 usullari bo‘yicha kalibrlash boshqa elementlarning minimal ta’siri bilan olinadi va elementlararo ta’sirni tuzatish (aniqlangan elementning nurlanishini yutish) ikki yoki uch komponentli quyma disklar yordamida hisoblanadi. Shu bilan bir qatorda, ko‘p elementli kalibrlash usuli mavjud bo‘lib, unda bir vaqtning o‘zida kalibrlashlar olinadi va ko‘plab elementlarning alohida elementga ta’siri baholanadi.

57. Sintetik materiallardan tayyorlangan kalibrlash disklari seriyasi yoki 10.2.2 uchun standart namunalar (SeRM) to‘plamlari aniqlangan elementlarning turli xil aralashmalarini o‘z ichiga olgan 10.2.1 uchun yuqori toza reagentlardan tayyorlanadi. Belgilangan elementlarning tarkibi diskdan diskka har bir element uchun analitik diapazonni o‘z ichiga olgan chegaralarda o‘zgaradi, shuningdek, chiziqlarning ustma-ust tushishi va elementlararo ta’sirni baholashga imkon beradi.

Tuzatish koeffisientlarining matematik hisoblashlarining murakkabligini hisobga olgan holda, M.V.R. ko‘p o‘lchovli regressiya kompyuter dasturidan foydalaniladi.

Kerakli kalibrlash disklari soni n tahlil dasturida aniqlangan komponentlar soniga, n ga bog‘liq. N sonini dastlabki baholash quyidagi formula bo‘yicha amalga oshirilishi mumkin:

N = n2 + 1,

bu yerda n — regressiyani hisoblash orqali aniqlanishi kerak bo‘lgan omillarning umumiy soni, shu jumladan kalibrlash egri chizig‘i, chiziqli va fon sozlamalari, shuningdek massa yutilishini tuzatish.

58. Tizimning ishlashi uchun kutilgan (kutilgan) shovqinlarni (shovqinlarni) bilish, shuningdek disklar tarkibini puxta rejalashtirish kerak. Tahlil dasturida tahlil qilingan komponentlar qancha ko‘p bo‘lsa, kerakli disklar soni shuncha ko‘p bo‘ladi. Bunday holda, xatolar, masalan, tortish yoki sinov tayyorlash xatolari ehtimoli ortadi. Ushbu xatolarni aniqlash qiyin, ammo ularni qoplash ko‘rsatkichlarini hisoblashda hisobga olish kerak.

Xatolarni aniqlashning bir usuli-har bir to‘plamning intensivligini taqqoslash uchun har bir disk variantining ikkita nusxasini tayyorlash. Ushbu usul kalibrlash uchun zarur bo‘lgan ish hajmini ikki baravar oshiradi.

Tahliliy dasturning katta hajmida M.V.R. dasturini diqqat bilan o‘rganish, uning vazifani bajarish qobiliyatiga ishonch hosil qilish kerak.

10.3.4 Kalibrlash intervallari

A-ilovasida sinov materiallarida mavjud bo‘lgan eng muhim oksidlar uchun massa ulushlarining odatiy intervallari keltirilgan, ammo bu usul aniqlanadigan oksidlar sonini cheklamaydi.

       16

Olovbardoshlarlarning turlari bo‘yicha tasnifi 3-bo‘limda keltirilgan. Biroq, kalibrlashda ushbu tasnifga murojaat qilmasligingiz kerak, chunki, masalan, magnezitoxromit, xromomagnezit olovbardoshlarlari va xrom rudasi bitta kalibrlashga kiritilgan uzluksiz seriyaning bir qismi bo‘lishi mumkin. Bunday misollardan yana biri magnezium silikat bo‘lib, u bir xil kalibrlashda va alyumosilikatli olovbardoshlarlari sifatida hujayralararo tuzatishda ishtirok etishi mumkin, magniy oksidi bundan mustasno, kalibrlash intervallari osongina kengayadi. Boshqa mumkin bo‘lgan kombinatsiyalar quyida keltirilgan, ammo ro‘yxat to‘liq emas.

Agar alyuminiy oksidi bilan kremniy oksidi uchun massa yutilishini tuzatish qo‘llanilsa va aksincha, nol nuqtasi ortiqcha vaznga ega bo‘lsa, u holda diapazonning yuqori va pastki chetlarida aniq bo‘lgan har bir oksid uchun 0 % dan 100 % gacha kalibrlash kerak. Ushbu tuzatishlar mavjudligiga qaramay, kalibrlash grafiklari chiziqli bo‘lmasligi mumkin. Bunday holda, grafikni kvadratik bog‘liqlik yordamida tasvirlashga ruxsat beriladi, ammo yuqori darajadagi bog‘liqlikni qo‘llash mumkin emas.

Kengaytirilgan jadvallarning yuqori va pastki chegaralari mos sintetik standart disklar bilan doimiy ravishda kuzatilishi kerak.

Sirkon, AZS va alumomagnezial shpinel alyumosilikatli seriyasining davomi bo‘lishi mumkin.

Sirkon sirkoniy dioksidga asoslangan bir qator materiallarning bir qismi bo‘lishi mumkin.

Dolomit va ohaktosh bir guruhga birlashtirilishi mumkin.

Magnezial glinozemik shpinel magniy oksidiga asoslangan bir qator materiallarning davomi bo‘lishi mumkin.

59. Standart namunalar to‘plami yordamida kalibrlash

60. Kalibrlash uchun standart disklar

Kalibrlash disklari asosan standart namunalar to‘plamlari (SeRM) yordamida ishlab chiqariladi, ularning misollari E-ilovasida keltirilgan. Tahlil qilingan namunalardagi komponentlarning tarkibini qamrab oladigan standart kalibrlash disklarini tayyorlash tavsiya etiladi. Agar tahlil qilingan namunalardagi komponentlarning tarkibi ushbu standart namunalar bilan qamrab olinmasa, standart namunalar to‘plamlarini (SeRM) aralashtirish yoki ularga toza reagentlar qo‘shishga ruxsat beriladi. Agar standart namunalar to‘plamlari (SeRM) kalibrlash turini aniqlash uchun ishlatilsa, kalibrlash G-ilovasidagi sintetik standart disk yordamida tekshiriladi.

Agar kalibrlash uchun standart namunalar to‘plamlari (SeRM) ishlatilsa, sintetik standart disk uchun nazariy qiymat (namunadagi massa ulushi sifatida qo‘shilgan va ifodalangan reagentlar massasidan hisoblab chiqilgan) va kalibrlash natijasida olingan natijalar o‘rtasidagi farq sertifikatlangan standart namunalar (CRM) xatosidan kam bo‘lishi kerak (G-ilovasi).

61. Kalibrlash egri chizig‘i va tenglama

62. Kalibrlash egri chizig‘ini qurilishi

Kalibrlash egri chizig‘ini qurilish uchun standart disklarning lyuminestsent rentgen nurlanishining intensivligi o‘lchanadi. Eng kichik kvadratlar usuliga muvofiq regressiyaning kvadrat tenglamasi yoki chiziqli regressiya tenglamasi bilan tavsiflangan kalibrlash egri chizig’i uchun standart disklardagi komponentlar tarkibiga rentgen nurlanishi intensivligining bog‘liqligini hisoblab chiqadi (quradi).

                                                          Ci = ali2 + bli + c                                  (5)

bunda Ci — i komponentining tarkibi;

li — i komponentining rentgen nurlanishining intensivligi;

a, b, c — koeffisientlar (α = 0 chiziqli tenglama holatida).

63. Kalibrlash tenglamasini hisoblash

Agar 10.4.2.1-bandiga muvofiq yetarlicha aniq kalibrlash egri chizig‘ini olishning iloji bo‘lmasa, kalibrlash tenglamasi formula shaklida H-ilovasida ko‘rsatilgan usul bo‘yicha hisoblanadi:

                                             Ci = (ali2 + bli + c) (1 + Σαj Cj) + ljCj ,                   (6)

       17

bu yerda Ci — tahlil qilinadigan komponentning konsentratsiyasi;

αj — j komponentining hamrohlik qiluvchi matritsasini tuzatish koeffisienti;

Cj — j komponentining hamrohlik qiluvchi tarkibi;

C j — j komponentining hamrohlik qiluvchi uchun chiziq qoplamasini tuzatish koeffisienti.

Kalibrlash egri chizig‘ining aniqligi (7) formula bo‘yicha hisoblanadi.

Agar qiymat tahlil xatosidan oshsa, hamrohlik qiluvchi komponentlarni tuzatish koeffisientlari bilan kalibrlash formulasidan foydalaniladi.

                                                                                 (7)

bu yerda si — i komponentini hisoblashda standart xatolik;

Ci — kalibrlash egri chizig‘i bo‘yicha olingan i komponentining tarkibi foizda;

N — kalibrlash egri chizig‘ini qurish uchun ishlatiladigan disklar soni;

Ø — olingan koeffisientlar soni (chiziqli tenglama uchun ikkita, kvadrat tenglama uchun — uchta.)

si qiymatini rentgen-fluoressent spektrometrga ulangan kompyuter yordamida kalibrlash egri chiziqlarini hisoblash bilan birga olish mumkin.

Agar standart hisoblash xatosi sezilarli darajada aniqlangan bo‘lsa yoki standart xato kerakli tahlil xatosidan kam bo‘lsa, hamrohlik qiluvchi komponentlarni tuzatish koeffisientlari bilan kalibrlash tenglamasidan foydalanish maqsadga muvofiqdir.

Izoh — standart namunalar to‘plami yordamida kalibrlashda chiziq qoplamasini tuzatish 10.3.2.6 va 10.3.2.7 reagentlari yordamida kalibrlashda tuzatishga o‘xshaydi.

64. Tuzatishlar

65. Chiziqlar qo‘yishni tuzatish

Tuzatishlarni ikki komponentli standart disklar asosida amalga oshirish maqsadga muvofiqdir. Tuzatishlar aniqlangan oksidning 10.3.2.7 aralashuviga nisbatan foizini ifodalaydi. Istisno holatlarda “intensivlikka intensivlik” tuzatishlaridan foydalanishga ruxsat beriladi.

Hf Lα ga Zr aralashuvida yuqori aniqlikdagi kollimatorli Hf Lß yoki Hf Mα ishlatiladi. Na Kα ga Zr, Mg Kα ga Ca va Mn Kα ga Cr aralashuviga e‘tibor qaratish lozim.

66. Fonni tuzatish

Fonni tuzatish 11.1-bandiga o‘xshash tarzda amalga oshiriladi, ayniqsa bir vaqtning o‘zida ro‘yxatdan o‘tkazuvchi spektrometrlaridan foydalanganda. Shu bilan bir qatorda, ketma-ket ro‘yxatga olish spektrometridan foydalanganda bitta yoki ikki marta fon o‘lchovidan foydalanish. Na yoki Mg ni Cr rentgen trubkasi yordamida o‘lchashda yoki massa ulushi 0,05% dan kam bo‘lgan oksidni aniqlashda cho‘qqisiz fondan foydalaniladi.

Muqobil yondashuv sifatida, qisqa interval bilan bir nechta kalibrlashlar qo‘llaniladi, buning uchun ushbu intervallarda fon o‘zgarishi ahamiyatsiz edi.

Fonni olib tashlash o‘lchovlarni namunani tayyorlashda yuzaga keladigan jismoniy farqlardan ham, asosiy qo‘zg‘alishning o‘zgarishidan ham mustaqil qiladi.

Rentgen-fluoressent spektrometriyasida fon uchta asosiy manbaga ega.

1. Rentgen trubkasining tarqoq nurlanishi:

2. xuddi shu energiya bilan: nurlanishni kamaytirish mumkin emas, chunki u aniqlangan elementning foton energiyasiga mos keladi.

Izoh — trubkaning birlamchi nurlanishidan (masalan, Cr rentgen trubkasidan foydalanganda Mn Kα) qo‘shni analitik chiziqlardan foydalanish tavsiya etilmaydi. Istisno-bu birlamchi nur uchun filtrlardan foydalanish.

2. to‘lqin uzunligi dispersiyasi bo‘lgan RFAda o‘lchangan fotonlardan ikki, uch va to‘rt baravar yuqori energiyaga ega fotonlarga mos keladigan yuqori aks ettirish tartibidagi nurlanish. 50 kV da yuqori tartibli elementlar qo‘zg‘almaydi.

3. Namunaning lyuminestsent nurlanishi:

4. namuna spektrida 2 -, 3-va 4-darajali turli elementlarning spektral chiziqlari mavjud;

5. boshqa elementdan bir xil energiyaga ega bo‘lgan nurlanish, o‘lchanganidan boshqa turdagi cho‘qqiga mos keladi (ajralmas interferentsiya holatida boshqa spektral chiziq tanlanishi kerak).

6. Kristalda fluoressensiyaning tarqalishi natijasida nurlanish. Ushbu nurlanish namuna turiga va analizator kristaliga bog‘liq.

7.  

8. Siljishni tuzatish

Har bir grafikning yuqori va pastki chegaralari kalibrlash jarayonida va har bir namuna to‘pi uchun nazorat qilinadi. Siljishni tuzatish uchun 10.3.2.3 uchun mos yozuvlar (yoki qayta kalibrlash) standart disklar to‘plami tayyorlanadi. R intensivligi quyidagi formula bo‘yicha hisoblanadi:

                                                                         (8)

bu yerda Nb — tanlangan element uchun pastki nisbati bo‘lgan standart disk uchun dastlab olingan hisoblash tezligi;

N's — mos keladigan element uchun namuna yoki standart disk uchun olingan hisoblash tezligi;

N'b — tanlangan element uchun pastki nisbati bo‘lgan standart disk uchun olingan joriy hisoblash tezligi;

Nt — tanlangan element uchun standart yuqori nisbatli disk uchun dastlab olingan hisoblash tezligi;

N't — tanlangan element uchun standart yuqori nisbatli disk uchun olingan joriy hisoblash tezligi.

N'b = 0 va Nt = 1 bo‘lganda (8) formula quyidagi formulaga aylantiriladi

                                                                                      (9)

Izoh — fon uchun ishlatiladigan siljishni tuzatish sezgirlik uchun ham javob beradi.

68. Natijalarni hisoblash

Odatda, quyida tavsiflangan b) — (d) bosqichlari takrorlanishni talab qiladi. Qoida tariqasida, siljish tuzatilgandan so‘ng massa yutilish sozlamalari mutlaq yoki nisbiy intensivlikda qo‘llaniladi; keyin konsentratsiyalar hisoblab chiqiladi va natijada chiziqlar qo‘llanilganda foydalaniladi. Ammo, agar kalibrlashlar to‘g‘ri chiziqlarga yaqin bo‘lsa, u holda konsentratsiyalarga massa so‘rilishini tuzatishga ruxsat beriladi va takrorlashlar faqat c) va d) bosqichlarni talab qiladi.

Chiziqlarning ustma-ust tushishini tuzatishlar “intensivlikka intensivlik” yoki “konsentratsiyaga konsentratsiya” shaklida qo‘llanilishi mumkin. Quyidagi usullarning birinchisi, aralashtiruvchi elementning o‘lchangan chizig‘i analitik chiziqdan energiya jihatidan sezilarli darajada farq qilganda ishlatilmaydi.

1. Siljishni tuzatish.

2. Nisbiy intensivliklarni yoki hisoblash tezligini konsentratsiyaga qayta hisoblash.

3. Massa absorbsiyasini tuzatish.

4. Chiziqlarning ustma-ust tushishini tuzatish.

5. Volfram karbid uchun qizdirishdagi massaning nisbiy o‘zgarishini tuzatishlar B-ilovasiga muvofiq amalga oshiriladi.

Dastur ikki nuqtada siljishni tuzatishni (11.3) ta’minlashi kerak. Cho‘qqisiz fonni o‘lchashda siljishni tuzatish faqat yuqori kalibrlash oralig‘ida amalga oshiriladi, chunki cho‘qqisiz fon pastki nuqta bo‘lib xizmat qiladi. Tuzatish o‘rganilayotgan elementni kalibrlashda standart siljish disklari uchun olingan qiymatlarning nisbati yoki tiklanishi sifatida qo‘llanilishi mumkin.

69. Dasturiy ta’minot talablari

70. Dastur kalibrlash ma’lumotlari asosida regressiyani ta’minlashi va quyidagi xususiyatlarga ega bo‘lishi kerak:

71. nol nuqtasiga matematik og‘irlikni qo‘shish qobiliyati;

72. regressiyadan standart kalibrlash disklarini (boshqa elementlar uchun) olib tashlash qobiliyati.

73. Taxminan 10 ta oksidni o‘z ichiga olgan an‘anaviy analitik dastur 10 ta element uchun mo‘ljallangan dastur uchun har bir element uchun taxminan 20 ta tuzatish uchun barcha chiziqlar va koeffisientlarni saqlash imkoniyatini ta’minlashi kerak.

Ko‘proq komponentlar va kengroq konsentratsiyalarni o‘z ichiga olgan yanada murakkab dasturlar ko‘proq matritsali tuzatishlarga ega bo‘lishi kerak.

Dastur elementlararo tuzatish koeffisientlarini, chiziq qoplamalarini, kalibrlash koeffisientlarini va qayta kalibrlash (nisbatlar) ma’lumotlarini qo‘lda kiritishni, shuningdek ularni tahrirlashni ta’minlashi kerak. Bu esa, ommaviy absorbsiya koeffisiyentlarini yoki oflayn rejimda hisoblangan boshqa koeffisiyentlarni kiritishga imkon beradi.

Qurilmani dastlabki kalibrlashdan so‘ng, yangi talablar kalibrlashni kengaytirish zarurligini keltirib chiqarishi mumkin. Bunday holda, dastur kalibrlash koeffisientlarini qo‘lda yoki boshqa usulda tuzatish imkoniyatini ta’minlashi kerak.

72. Tahlil natijalarini hisoblash uchun ko‘pincha boshqa usul bilan olingan ma’lumotlar kerak bo‘ladi (rentgen-lyuminestsent tahlil emas). Spektrometr yordamida qo‘lda boshqarish rejimida yoki namunalarni o‘zgartirish rejimida quyidagi ma’lumotlarni olish mumkin:

73. litiy oksidining tarkibi;

74. bor oksidining tarkibi;

75. ftorning tarkibi;

76. qizdirish paytida massaning nisbiy o‘zgarishi (ma’lumotlar salbiy bo‘lsa ham, bu qizdirish paytida massa ortishi bilan sodir bo‘ladi);

77. kamroq tarqalgan materiallarda uchraydigan boshqa elementlar yoki oksidlarning tarkibi.

78. Litiy oksidi, bor oksidi va ftor uchun massa yutilishini tuzatish koeffisientlari va fon effektlari rentgen fluoressentsidan foydalanmasdan aniqlangan va kamroq tarqalgan materiallarda topilgan boshqa elementlar yoki oksidlar bilan birgalikda spektrometr yordamida olingan konsentratsiya ma’lumotlari bilan birga takroriy tsiklga kiritiladi.

79. Qizdirish paytida massaning o‘zgarishini va volfram karbid ko‘rinishidagi aralashmalarning mavjudligini hisobga olgan holda eksperimental konsentratsiya natijalariga o‘zgartirish kiritish, shuningdek volfram karbidini qizdirish paytida massaning o‘zgarishini hisobga olgan holda tuzatishlar kiritish mumkin bo‘lishi kerak.

80. Massa absorbsiyasining tuzatishlari “konsentratsiyaga intensivlik” shaklida ifodalanadi, kalibrlashlar deyarli to‘g‘ri chiziqlar shaklida ifodalangan va “konsentratsiyaga konsentratsiya” shaklida ifodalanishi mumkin bo‘lgan hollar bundan mustasno.

81. Namuna va bir vaqtning o‘zida ishlatiladigan ikkita eritgich o‘rtasidagi nisbat; chiziqlar “konsentratsiyaga konsentratsiya” shaklida bo‘lishi kerak, ammo “intensivlikka intensivlik” va “konsentratsiyaga intensivlik” turlaridan foydalanish uchun qo‘shimcha imkoniyatga ega bo‘lish maqsadga muvofiqdir.

82. Elementlararo tuzatishlarning takrorlanishi berilgan natijalarning yaqinlashishini ta’minlashi kerak (0,001% massa ulushi doirasida) yoki takrorlash soni rejimni tiklash uchun yetarli bo‘lishi kerak (odatda 5 tsikl yetarli) yoki ikkalasi ham.

78. Qayta tiklanuvchanlik va takrorlanuvchanlik

79. Eritishga sinovlari

Eritishga sinovlari quyidagi hollarda amalga oshiriladi:

1. eritish usuli barcha kerakli talablarga javob berishini tasdiqlash uchun;

2. namunani tayyorlash rejimi o‘zgartirilganda, masalan, qo‘lda boshqariladigan rejimidan avtomatik rejimga yoki eritish usuli o‘zgartirilganda;

3. boshqa turdagi eritgich yoki eritgich/namuna massa nisbati qo‘llanilganda.

Laboratoriyada ishlatiladigan har bir eritgich uchun va har bir eritgich/namuna massa nisbati uchun namunalarni tayyorlashning statistika ma’lumotlari to‘planadi. Statistik ma’lumotlarni to‘plash uchun har bir eritgich va har bir eritgich/namuna nisbati alohida sinovdan o‘tkaziladi.

Takrorlanuvchanlik sinovlari I-ilovasida keltirilgan tegishli sertifikatlangan standart namunalar (CRM) bilan bir xil tarzda ishlab chiqarilgan kamida 6 ta disk yordamida amalga oshiriladi.

Disklar tanlangan hisoblash vaqti davomida rentgen-fluoressent spektrometrida birgalikda o‘lchanadi, bu statistik o‘zgaruvchanlik xatosini erish xatosiga nisbatan ahamiyatsiz darajaga tushiradi. I-ilovasiga muvofiq eritish va hisoblashda xato qiymati aniqlanadi.

Standart og‘ishlar har bir aniqlanadigan oksid uchun hisoblanadi. Agar biron bir oksid uchun standart og‘ish I-ilovaga muvofiq belgilangan qiymatdan oshsa, u holda erish usuli o‘zgartiriladi yoki boshqa me‘yoriy hujjatlar bo‘yicha tahlil qilinadi va ushbu standart unga taalluqli emas.

Izoh — temir, nikel va kobaltni eritishda ushbu metallarni kamaytirish va eritish uchun idish materiali bilan eritish imkoniyati bilan bog‘liq muammolar paydo bo‘lishi mumkin. Ushbu metallarning ko‘proq oksidlangan shakllarini eritish standart og‘ishni ruxsat etilgan darajaga kamaytirishi mumkin, masalan, suvsizlangan litiy nitrat oksidlovchi sifatida samarali bo‘lishi mumkin.

80. Asbob sinovlarining chastotasi

Asboblar 12.3 — 12.7 bo‘yicha sinovdan o‘tkaziladi:

1. moslamani dastlabki sozlashda, kalibrlash usulini yoki namunani tayyorlash usulini dastlabki sinovdan o‘tkazishda

2. qurilmaga sezilarli o‘zgarishlar kiritilgandan so‘ng, masalan, rentgen trubkasini yoki hisoblagich oynasini almashtirish;

3. muntazam ravishda — yiliga 1 marta.

4. Namunalar ushlagichlar o‘rtasida ruxsat etilgan maksimal farqlar

Namuna ushlagichlarini almashtirish spektrometrni o‘rnatgandan so‘ng, ushbu usul bo‘yicha sinovlarni boshlashdan oldin yoki namuna egalaridan kamida bittasi ishlamay qolganda amalga oshiriladi.

Izoh — agar namuna o‘rnatilgan sirt o‘lchash moslamasining bir qismi bo‘lsa va namuna ushlagichiga bog‘liq bo‘lmasa, sinov o‘tkazilmaydi.

100 % sof kremniy oksidining standart namunasi namuna egalarining har birida o‘n marta sinovdan o‘tkaziladi, undan har bir o‘lchov orasidagi diskni almashtirish orqali keyingi tahlillar uchun ishlatiladi.

Har bir ushlagichi uchun intensivlikning konsentratsiyaga nisbati o’rtacha arifmetik qiymatini hisoblab chiqadi. Sinovlar barcha namuna egalari uchun takrorlanadi, so‘ngra barcha egalar uchun umumiy arifmetik o‘rtacha hisoblanadi, sinov natijalari qo‘pol o‘tkazib yuborilgan egalar bundan mustasno.

Agar natijaning umumiy o‘rtacha qiymatdan chetga chiqishi G-ilovasida keltirilgan qiymatlardan oshsa, ushlagich rad etiladi.

Rad etish sabablari bartaraf etilgandan so‘ng ushlagichdan foydalanishga ruxsat beriladi.

82. Namunaning o‘lchashdagi holati

100% sof kremniy oksidi namunasi har bir tahlil qilinadigan elementni aniqlashda har bir mumkin bo‘lgan holatda o‘n marta sinovdan o‘tkaziladi. Sinovlar spektrometrda o‘lchash uchun bir nechta pozitsiya mavjud bo‘lganda yoki spektrometr qismlaridan biri o‘rnatilgandan yoki ta’mirlangandan so‘ng amalga oshiriladi.

Har bir pozitsiya uchun olingan natijalar quyidagilar ichida bo‘lishi kerak:

• SiO 2 massa ulushining o‘rtacha qiymatidan ± 0,2 %;

• kam miqdorda mavjud bo‘lgan komponentlar uchun massa ulushining o‘rtacha qiymatidan aniqlash ± chegarasi.

Agar natijalar belgilangan chegaralardan oshib ketsa, qurilmani qo‘shimcha sozlash kerak.

83. Instrumental xatolik

Sinovlari 1 soatdan ortiq bo‘lgan disk to‘plari uchun spektrometrning o‘rta muddatli siljishini 8 dan 10 soatgacha yoki uzoqroq vaqt davomida nazorat qilinadi. Tegishli sertifikatlangan standart namunalar (CRM) quyidagi usullardan biri bilan o‘lchanadi:

1. sertifikatlangan standart namunadan (CRM) tayyorlangan disk 1 soat intervalda o‘lchanadi. O‘lchovlardan olingan tahlil natijalarining farqi G-ilovasida keltirilgan tolerantliklar doirasida bo‘lishi kerak.

Agar sertifikatlangan standart namunani (CRM) o‘lchash natijalari G.1-jadvalidagi qiymatlarga mos kelmasa, nomuvofiqlik aniqlangandan keyin o‘lchangan barcha namunalar qayta sinovdan o‘tkaziladi;

2. So‘nggi olti oy ichida sertifikatlangan standart namunadan (CRM) tayyorlangan disk uchun o‘lchov natijasi yoki asbobning oxirgi ta’mirlanishi yoki texnik xizmat ko‘rsatilishidan so‘ng (qaysi davr qisqaroq bo‘lishiga qarab) a), G-ilovasida keltirilgan mezonlarga javob beradi.

Buning uchun tahlil qilinadigan namunalarning maksimal to‘pi tahlilning umumiy vaqti (bir kundan ortiq bo‘lmagan) davomida diskni har soatda o‘lchov o‘tkazadi. Keyin diskni CRM-dan faqat tahlil jarayonining boshida va oxirida o‘lchash kifoya. Bunday analitik natijalar o‘rtasidagi farq G.1 c da ko‘rsatilgan cheklovlar doirasida ham bo‘lishi kerak).

Agar ushbu shart bajarilmasa, ushbu to‘pini sinovdan o‘tkazish boshlanganidan 1 soat o‘tgach o‘lchangan barcha namunalarning takroriy o‘lchovlari amalga oshiriladi.

Izoh — asbobning siljishini nazorat qilishning muqobil usuli bu tahlil jarayonining boshida va oxirida nazorat diskini o‘lchash natijalarini kuzatishdir.

84. Ketma-ket tizimlari

Ketma-ket ro‘yxatdan o‘tgan spektrometrlar yoki goniometrga ega bo‘lgan bir vaqtning o‘zida ro‘yxatdan o‘tgan spektrometrlar uchun ro‘yxatga olish moslamalari analitik chiziqlarning cho‘qqilariga aniq o‘rnatilishi kerak. Qurilma ishlab chiqaruvchilari ushbu shartni ta’minlaydigan dasturlar va maxsus standart namunalarni taqdim etadilar. Dasturlar va maxsus standart namunalar bo‘lmasa, operatorning o‘zi mos ravishda kristall va detektor uchun θ va 2θ burchaklarni o‘rnatadi.

Goniometrni o‘rnatishda ishlatiladigan chiziqlar kamida ikkita standart diskni talab qiladi, ularda interferent elementlar yo‘q va har bir kristall/detektor kombinatsiyasi (shu jumladan ko‘p qatlamli kristallar).

Sinovlar goniometrni o‘rnatgandan so‘ng, ushbu usuldan foydalanishdan oldin va goniometr tizimiga yillik texnik xizmat ko‘rsatish yoki ta’mirlashdan so‘ng amalga oshiriladi.

Goniometrni har kuni yoki ishlatishdan oldin (agar u kamdan-kam ishlatilsa) θ va 2θ o‘rtasida mexanik aloqasi bo‘lmagan tizimlar uchun, masalan, Moire (interferentsiya) tarmoqli tizimi uchun nolga tenglashtirish tavsiya etiladi.

85. Bo‘sh ish vaqti (o‘lik vaqti)

Bo‘sh ish vaqti — hisoblagich oldingi impulslarni hisoblash bilan bandligi sababli javob bermaydigan vaqt.

O‘lik vaqtni quyidagi usullardan biri bilan qisqartirishga ruxsat beriladi:

1. sensordan chiziqli javob (reaksiya)oralig‘ida foydalanish;

Izoh — aslida, aniqlangan aralashmalarning aksariyati uchun javob chiziqli bo‘ladi.

2. chiziqli javobni yaratish uchun elektron o‘lik vaqt tuzatuvchisidan foydalanish;

3. o‘lik vaqtni hisoblash va hisob-kitoblarga har bir detektor uchun zarur bo‘lgan matematik tuzatishlarni kiritish.

86. Boshqa sinovlar

Agar hech qanday xato aniqlanmasa, asboblarni etkazib beruvchi firmaning yo‘riqnomalarini amal qilishadi.

87. Gaz yetkazib berishi

Oqim proportsional hisoblagich sezgirligining siljishini oldini olish uchun muhim omil gaz balloni va ulanish quvurining harorati hisoblanadi. Quvur liniyasining uzunligi iloji boricha qisqa bo‘lishi kerak. Quvur liniyasi, iloji bo‘lsa, spektrometr va boshqariladigan haroratga ega xonada joylashgan.

Gaz balloni spektrometr bilan bir xonada saqlanadi, agar yong‘in va xavfsizlik qoidalariga ruxsat berilsa. Agar buning iloji bo‘lmasa, balon haroratni nazorat qiluvchi shkafda (± 2) 0C yoki xona haroratini doimiy ushlab turadigan boshqa joyda saqlanadi.

Ishlatishdan oldin yangi tsilindrlar xona haroratini xona haroratiga tenglashtirish uchun xonada 2 soat davomida saqlanadi.

Gaz tarkibidagi o‘zgarishlar tufayli 10 % dan kam gaz bilan to‘ldirilgan tsilindrlardan foydalanishga yo‘l qo‘yilmaydi.

88. Sertifikatlangan standart namunalari (CRM) bo‘yicha aniqlikni nazorat qilish

89. Sintetik disklar bo‘yicha qurilgan kalibrlashlarning to‘g‘riligini tekshirish

Sertifikatlangan standart namunadan (CRM) tayyorlangan disk sinov disklarining har bir to‘pi bilan spektrometrda tahlil qilinadi. Olingan natijalar G-ilovasiga mos kelishi kerak. Sertifikatlangan standart namunalar (CRM) ro‘yxati G-ilovasida (10.4.1 va G-ilovasi) keltirilgan.

Agar sertifikatlangan standart namunalarni tahlil qilish natijalari G-ilovasida ko‘rsatilgan ruxsat etilgan chegaralardan oshib ketsa, o‘lchov takrorlanadi.

Agar takroriy o‘lchov natijalari belgilangan chegaralarga mos kelmasa, yangi disklar sertifikatlangan standart namunalardan (CRM) tayyorlanadi va tahlil qilinadi.

Agar yangi tayyorlangan disklarning sinov natijalari belgilangan chegaradan oshsa, tegishli choralarni ko‘rish va qayta kalibrlash kerak.

90. Standart namunalar to‘plamlari (SeRM) bo‘yicha tuzilgan kalibrlashlarning to‘g‘riligini tekshirish

Standart namunalar to‘plamidan (SeRM) tayyorlangan disklar har bir disk to‘pi bilan spektrometrda o‘lchanadi. Olingan natijalar G-ilovasiga mos kelishi kerak.

91. Sertifikatlangan standart namunalardan (CRM) yangi disklar yoki standart namunalar to‘plamidan (SeRM) kalibrlashni tekshirish uchun ishlatiladigan sintetik standart disklar

Disklar sertifikatlangan standart namunalardan (CRM) tayyorlanadi (D-ilovaga qarang) va natijalarni quyidagi hollarda G-ilovada keltirilgan qiymatlar bilan taqqoslanadi:

1. suyuq top‘ni almashtirishda;

2. namunani tayyorlash usulini o‘zgartirganda;

3. har olti oyda bir marta, sertifikatlangan standart namunalardan tayyorlangan disklar va sintetik standart disklar barqaror va uzoq vaqt davomida ifloslanmasligi aniqlangan hollar bundan mustasno.

92. Aniqlash chegaralarini belgilash

Aniqlash chegarasi D, %, formula bo‘yicha hisoblanadi:

(10)

bunda S — foizda hisoblash tezligi sifatida ifodalangan oksidni aniqlash sezgirligi;

Rb — tahlil qilinadigan materialning ma’lum bir sinfidagi 100 % matritsa oksididan tashkil topgan standart diskda ushbu oksid uchun olingan hisoblash tezligi.

S va Rb    ni aniqlash uchun hisoblash tezligi bir xil vaqt oralig‘ida olinishi kerak.

Alyumosilikatlilar uchun 100 % SiO2 oksidlar uchun nol matritsa sifatida qabul qilinadi, SiO2 o‘zi tahlil qilingan hollar bundan mustasno. SiO2 uchun 100 % Al2O3 nol matritsa sifatida ishlatiladi.

Magnezit va tsirkon olovbardoshlarlari kabi bitta asosiy oksidli materiallar uchun asosiy oksidni aniqlash chegarasi talab qilinmaydi.

93. O‘lchovlarni bajarish va natijalar sifatini nazorat qilish

94.  O‘lchovlarni bajarish algoritmi

Takrorlanish sharoitida C ning massa ulushini, komponentlarini (elementlar yoki elementlar oksidlarini) ikkita parallel aniqlash amalga oshiriladi.

Izoh — parallel ta’riflar bitta namunadan tayyorlangan ikkita diskni o‘lchash natijalari hisoblanadi.

Tahlil qilinayotgan namunalarning kimyoviy tarkibi, tuzilishi va boshqa fizik-kimyoviy xususiyatlarining ta’sirini hisobga olgan holda komponentlarning massa ulushini o‘lchash natijalariga tuzatishlar kiritishga ruxsat beriladi.

95.  O‘lchov natijalarini qayta ishlash va taqdim etish

96. Natijalarning maqbulligini tekshirish, o‘lchov natijalarini qayta ishlash

Olingan parallel ta’riflar natijalarining mutlaq tafovutini C1 va C2 takrorlanish chegarasi r bilan taqqoslanadi, 1-jadval.

Agar natijalar orasidagi mutlaq tafovut r dan oshmasa

                   |С1 - С2| ≤ r,                  (11)

ikkala ta’rif ham maqbul deb tan olinadi va yakuniy natija sifatida ularning arifmetik o‘rtacha qiymatini oladi. Agar mutlaq tafovut r dan oshsa, qo‘shimcha ravishda bir xil namunadan ikkita disk tayyorlanadi va takrorlanish sharoitida ta’riflar bajariladi. To‘rtta ta’rif natijalari o‘rtasidagi mutlaq tafovut to‘rtta parallel CR0,95 (4) ta’riflari uchun kritik natijalar diapazoni bilan taqqoslanadi, 1-jadval. Agar to‘rtta ta’rif natijalari orasidagi maksimal tafovut kritik CR 0,95 (4) diapazonidan oshmasa

                                                        |Сmax – Сmin| ≤ CR0,95 (4),                 (12)

natijalar maqbul deb tan olinadi va yakuniy natija sifatida to‘rtta ta’rifning arifmetik o‘rtacha qiymatini oladi.

Agar (12) shart bajarilmasa, unda to‘rtta ta’rifning mediani yakuniy natija sifatida qabul qilinadi

                                       (13)

bunda C(2) — ikkinchi eng kichik natijadir;

C(3) — uchinchi eng kichik natijadir.

Bunday holda, o‘lchov natijalarining tarqalishining sabablari aniqlanadi va yo‘q qilinadi.

97. O‘lchovlarni bajarish tartibini tezkor nazorat qilish

Kamida bir marta smenada yoki bir vaqtning o‘zida tahlil qilingan disklarning har bir partiyasi bilan standart namunani tahlil qilish o‘lchash usuli xatosining yarmidan ko‘p bo‘lmagan sertifikatlash xatosi bilan amalga oshiriladi.

Agar standart namunadagi komponentning massa ulushini o‘lchash natijasining attestatsiyadan o‘tgan Саm qiymatidan og‘ishi КТ nazorat me’yoridan oshmasa, tahlil natijalari qoniqarli deb topiladi, 1-jadval.

                                                                      |  – Сam| ≤ КТ                  (14)

Agar shart bajarilmasa (14) o‘lchovlar takrorlanadi. Agar ushbu shart takrorlanmasa, qoniqarsiz natijalarga olib keladigan sabablar aniqlanmaguncha va bartaraf etilgunga qadar o‘lchovlar to‘xtatiladi.

98. O‘lchov natijalarini qayta ishlash

O‘lchov natijasi formula shaklida yoziladi:

 ± ∆, (P = 0,95),                  (15)

bunda ∆ — P = 0,95 xatolik intervali chegarasi, 1—jadval.

Izoh

1. ∆ qiymati 2 ga teng k qamrov koeffisienti bilan U kengaytirilgan noaniqlikka mos keladi.

2. O‘lchov natijalarining xatosi va ishonch ehtimolini ko‘rsatish o‘rniga, ushbu standartga havola berishga ruxsat beriladi.

Agar median o‘lchovlarning yakuniy natijasi sifatida qabul qilinsa, u xato intervali chegaralarini ko‘rsatmasdan taqdim etiladi. 1-jadval bo‘yicha o‘lchov diapazonlaridan tashqarida joylashgan, ammo A-ilovasi bo‘yicha kalibrlash intervalidan tashqariga chiqmaydigan komponentlarning massa ulushi qiymatlari uchun xato oralig‘i chegaralari ko‘rsatilmagan.

99.  O‘lchov natijalari sifatini statistik tahlil qilish

To‘g‘ri va laboratoriya ichidagi aniqlikni nazorat qilish natijalariga ko‘ra, belgilangan nazorat davri uchun statistik tahlil o‘tkaziladi.

Turli laboratoriyalarda olingan o‘lchov natijalarini taqqoslashda ularni taqqoslash 15.3.3 ga muvofiq amalga oshiriladi.

100. O‘lchov natijalarining to‘g‘riligini nazorat qilish

101. O‘lchov natijalarining to‘g‘riligini nazorat qilish uchun rentgen-lyuminestsent tahlil natijalarini sertifikatlangan usullar bilan bajarilgan kimyoviy tahlil natijalari bilan tanlab taqqoslash amalga oshiriladi.

Izoh — mustaqil kimyoviy tahlil usulining to‘g‘riligini nazorat qilish uchun dastur turli xil namuna tayyorlash usullaridan (eritish yoki presslash) foydalanganda o‘lchov natijalarining taqqoslanishini ta’minlashga imkon beradi.

102. To‘g‘ri nazorat qilinadigan natijalar soni nazorat qilinadigan davr uchun o‘lchov natijalarining umumiy sonining kamida 0,3 % bo‘lishi kerak.

103. Agar spektral va kimyoviy tahlillar natijalarining 1-jadval bo‘yicha КХ-С nazorat standartidan oshib ketadigan tafovutlar soni nazorat qilingan natijalar sonining 5% dan oshmasa, o‘lchovlarning to‘g‘riligi qoniqarli deb hisoblanadi.

104. O‘lchov natijalarining laboratoriya ichidagi (oraliq) aniqligini nazorat qilish

105. O‘lchov natijalarining laboratoriya ichidagi (oraliq) aniqligini nazorat qilish uchun ular ta’sir qiluvchi omillarni o‘zgartirib, ilgari tahlil qilingan namunalardagi komponentlarning massa ulushini aniqlaydilar: vaqt, laboratoriya yordamchilari va boshqalar.

106. Takroriy o‘lchovlar soni nazorat qilinadigan davr uchun umumiy o‘lchovlarning 0,3 % kam  bo‘lmasligi kerak.

107. O‘lchov natijalarining laboratoriya ichidagi (oraliq) aniqligi, agar 1-jadval bo‘yicha ruxsat etilgan RЛ qiymatlaridan oshib ketadigan birlamchi va takroriy tahlil natijalarining tafovutlari soni nazorat qilingan natijalar sonining 5 % dan oshmasa, qoniqarli deb hisoblanadi.

108. Takrorlanuvchanlik sharoitida olingan o‘lchov natijalarining maqbulligini nazorat qilish

Ikki laboratoriyada olingan natijalar, agar ular orasidagi mutlaq tafovut 1-jadvaldagi R takrorlanish chegarasidan oshmasa, maqbul deb hisoblanadi.

1-jadval — takrorlanuvchanlik, qayta tiklanuvchanlik chegaralari qiymatlari va nazorat normativlari foizlarda

1-jadvalning davomi

1-jadvalning davomi

1-jadvalning davomi